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掃描電子顯微鏡 JSM-7610F

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掃描電子顯微鏡 JSM-7610F 用于材料和電子器件失效分析的微觀觀察,同時(shí)具有超高分辨率和大景深的特點(diǎn),根據(jù)觀察效果不同,可選擇鎢燈絲電鏡和場(chǎng)發(fā)射電鏡.

詳細(xì)介紹

用于材料和電子器件失效分析的微觀觀察。

同時(shí)具有超高分辨率和大景深的特點(diǎn)。

根據(jù)觀察效果不同，可選擇鎢燈絲電鏡和場(chǎng)發(fā)射電鏡。

典型應(yīng)用：

- 銅箔表面的形貌觀察，尤其是銅瘤的檢查；

- 銅箔毛面與粘結(jié)片樹脂剝離后的微觀形貌觀察；

- 焊點(diǎn)失效時(shí)，焊點(diǎn)合金層形貌；

- 鍵合不良時(shí)焊點(diǎn)的微觀形貌。

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