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捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡

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產品簡介

捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡標配了照明系統球差校正器，是一款原子分辨分析型透射電鏡，擁有的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。標配照明系統球差校正器，且限度地提升了裝置的機械穩定性和電氣穩定性，實現了的STEM-HAADF...

詳細介紹

捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡標配了照明系統球差校正器，是一款原子分辨分析型透射電鏡，擁有的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。標配照明系統球差校正器，且限度地提升了裝置的機械穩定性和電氣穩定性，實現了的STEM-HAADF像分辨率（78pm*1、82pm*2）。

捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡標配照明系統球差校正器，且限度地提升了裝置的機械穩定性和電氣穩定性，實現了的STEM-HAADF像分辨率（78pm*1、82pm*2）。此外經過球差校正的電子束與一般的場發射透射電鏡相比，電流密度可以高出十倍。使用束斑更小、電流密度更大的電子束，能在進行原子水平的元素分析同時,大幅度地縮短測試時間，極大地提高分析效率。

*1 配備冷場發射電子槍 *2 配備肖特基場發射電子槍

捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡標配了掃描透射環形明場(STEM-ABF)成像模式，通過STEM-ABF像能直接觀察晶體樣品中輕元素的原子陣列，還可以同時獲取STEM-HAADF像，在樣品結構的分析中能夠發揮巨大威力

捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡配備日本電子制造的100mm²的大面積硅漂移檢測器(Silicon Drift Detector:SDD)*3，可以進行快速、高靈敏的EDS元素分析，與經過球差校正的電子束流組合，能進行原子級的元素面分布，在原子水平的分辨率下進行成份分析。

捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡的冷場發射電子槍(Cold-FEG)*4配備新開發的真空系統，與傳統的冷場發射電子槍不同，Flashing操作后可以馬上使用。由于光源小可以獲得更高分辨率的圖像。此外冷場發射電子槍的能量發散度小，不僅能進行高分辨率的EELS分析，還能降低色差。

捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡使用成像系統的球差校正器*5，透射電子像(TEM)的分辨率可以高達110pm。

分辨率
掃描透射暗場像	82pm（加速電壓200kV、肖特基場發射電子槍） 78pm（加速電壓200kV、冷場發射電子槍）
透射像（點分辨率）	190pm（加速電壓200kV） 110pm（加速電壓200kV、安裝TEM球差校正器）
倍率
掃描透射像	X200～X150,000,000
透射像	X50～X2,000,000
電子槍
電子槍	肖特基場發射電子槍冷場發射電子槍（選配件）
加速電壓	200～80kV（標準200kV、80kV）
樣品系統
樣品臺	全對中側插式測角樣品臺
樣品尺寸	3mmΦ
傾斜角	X軸: ±25°　Y軸: ±25°（使用雙傾樣品桿）
移動范圍	X,Y: ±1mm　Z: ±0.1mm（馬達驅動／壓電驅動）
球差校正器
照明系統球差校正器	標配
成像系統球差校正器	選配件
選配件
主要選配件	能譜儀（EDS）電子能量損失譜儀（EELS） CCD數碼相機系統 TEM/STEM斷層掃描系統雙棱鏡