產品概述：
開發新一代產品需要新型材料科學工具來給研究者提供所需要的表征數據的能力，以確切地了解材料間的相互關系以及什么特性對材料的功能比較重要。這意味著需要開發新的方法，例如三維數據采集，去深入地探索材料的特性。掃描電子顯微鏡能夠滿足大多數傳統研究的要求，但探索與開發新一代的材料需要同時具備掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)功能 。在各種各樣的SEM/FIB雙束系統中，Versa 3D是一款能提供更多的功能的儀器，可以滿足*材料的分析需求。
如果您已經對掃描電鏡非常熟悉，那么運用Versa 3D的雙束技術可以使您在同一個操作平臺上得到更多的實驗結果，而且您在實驗方案的設計上可以更少地受到約束。

主要優點：
•運用聚焦離子束技術將樣品表面以下的特征，層狀結構或缺陷暴露出來，然后由掃描電鏡獲取高質量的截面圖像。
•運用聚焦離子束技術收集新信息（例如通道襯度）以及對次表層進行解析，然后使用掃描電鏡來獲取成分，密度或分析信息。這些信息甚至在*不導電的樣品上也可以獲得。
•為原子級分辨率的透射電鏡定點制備TEM樣品薄片。
•在環境掃描電鏡模式使用冷臺或熱臺，將掃描電鏡的成像擴展到原始的含水樣品成像或進行原位動態實驗。
新技術擴展了Versa 3D能夠適應的樣品和應用的范圍：
•運用荷電平衡技術，如低真空掃描電鏡模式，Smart-SCAN 及 漂移抑制加工，對不導電的樣品上進行表征，以及從易于積累荷電和漂移的材料上制備樣品。
•增加選配的UC單色的電子源允許用低電壓和高分辨SEM在電子束敏感樣品或者難于觀察的材料上，而不放棄優秀的分析性能（只在Versa 3D高真空）。