FEI QUANTA™產品系列包括6個變量的壓力和環境掃描電子顯微鏡（ESEM™）和兩個DualBeam™系統，所有這些
都可以容納多個樣品和工業過程控制實驗室，材料科學實驗室和生命科學實驗室的成像要求。
• 最小化樣品制備的數量，低真空和 ESEM功能可實現絕緣及/或含水樣品的無荷電成像和分析。
• 通過 Quanta 的“經由透鏡"壓差真空技術，可在高真空和低真空條件下對導電和絕緣樣品進行EDS和EBSD分析，提高分析能力。穩定的高射束電流（高達 2 μA）可實現快速準確的分析。
• 使用原位樣品臺在-165 °C - 1500 °C 環境溫度條件下執行各種自然狀態樣品的動態原位分析。
• 使用可選的射束減速模式完成表面成像，以獲取導電樣品的表面和成分信息。
• 易用和直觀性令初學者也能進行高效操作。
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