隨著IC技術的快速發展，芯片需求量日益增加，芯片生產商與使用方都在尋找縮短芯片測試周期的方法。傳統的探針臺技術無法實現在不同溫度、帶電環境中對芯片進行失效分析測試。而且芯片測試內容不再局限于晶元和電極，器件、單片，系統級（板級）測試愈來愈受到青睞。
2210-LS專門為芯片的系統級測試而設計的，不僅可以在應用板上進行測試，并可以實現處于工作模式中芯片的系統級測試。2210-LS能夠分析實際工作環境中遇到的問題，包括：
     板級電源問題
? 板級失效分析
? 封裝測試
? 內部模塊設備接口和誤差問題
? 模塊間的問題比如混合信號接口相關問題
? 競態條件問題
? 時鐘域問題
? 手機板高低溫測試

2210-LS系統級探針臺模擬板級各種真實使用環境，不凝水不結霜，實時帶電測試。可升級至-40℃至+125℃范圍的系統級（板級）測試；測試范圍廣，不僅能夠完成基本的直流分析，還能實現E/K波段分析。另外，2210-LS配有較大的防震、開放式穩定測試平臺，可測試的應用板尺寸為0—10”×10”。

產品介紹：
2210-LS是真正意義上的系統級測試探針臺，為用戶真實模擬實際應用環境，用戶*根據實際應用，選擇最合適的功能配置，確保以的解決方案滿足用戶的需求。

?     光學防震桌尺寸為30”×36”，可容納26平方英寸的應用板。
? 雙向不銹鋼滑動臺覆蓋整個應用板，測試更輕便、快捷，能同時容納10個探針座。
? 顯微鏡可選擇單物鏡高放大倍數的A-Zoom顯微鏡、金相顯微鏡、體視顯微鏡、視頻顯微鏡。
? 測試過程中，卡盤Z軸固定不動，顯微鏡能夠自動聚焦，操作更方便、準確。
? 可移動、電隔離的應用板真空支撐座，可以放置不同厚度、不同尺寸的應用板，即使偏厚的應用板，仍可容納進去。
? 探針座的鎖定裝置進一步增加了測試的穩定性。
? *的電纜槽更方便管理探針臺的電纜以減小電磁干擾。

可定制升級附件：
?                        卡盤（載物臺）：可容納系統板尺寸為10”×10”
?                        顯微鏡及其移動基座
?                        CCD顯示模塊
?                        腔體屏蔽系統