P200L是集成高溫裝置、單點接地等優良特性的半自動測試探針臺。采用鑄鐵芯和交叉滾子軸承結構的導向螺旋移動不銹鋼滑臺，顯著提高了測試的穩定性。顯微鏡支撐為橋式結構，支持所有高分辨率、不同工作距的顯微鏡，包括A-Zoom顯微鏡、金相顯微鏡、體視顯微鏡、視頻顯微鏡。測試過程中，卡盤Z軸固定不動，顯微鏡能夠自動聚焦，操作更方便、準確。探針座放置平臺驅動器能夠在大的接觸區域上分配驅動力提高測試精度并延長使用壽命。不銹鋼探針座放置平臺兼容磁力或真空吸附的探針座，并提供長時間的吸附力。緊湊的基座結構提高了臺體的穩定性，并節省實驗室的面積。
• 滑臺、探針座放置平臺、顯微鏡在X、Y、Z軸的移動以及角度調節可選自動控制和手動搖桿控制兩種模式，當不需要自動控制時，搖桿控制同樣便捷。
•P200L接口支持USB、GPIB、RS-232、TCP/IP連接。
•可拆卸的front wedge 為探針座提供額外的空間并更方便放置待測樣品。
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•探針臺面前部開放，*的“Top Hat”結構，保障干燥、遮光的封閉測試環境。
•*的電纜槽更方便管理探針臺的電纜并減小電磁應力帶來的影響。
可定制升級附件：
? 選擇可獨立/可調節顯微鏡橋結構；
? 屏蔽箱：低溫下，提供絕緣、干燥遮光環境；
? 高溫卡盤（可選）；
? 探針卡夾具
? 視頻顯示模塊；
? 手動/半自動探針座座模塊；
? CCD顯示模塊
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• 滑臺、探針座放置平臺、顯微鏡在X、Y、Z軸的移動以及角度調節可選自動控制和手動搖桿控制兩種模式，當不需要自動控制時，搖桿控制同樣便捷。
•P200L接口支持USB、GPIB、RS-232、TCP/IP連接。
•可拆卸的front wedge 為探針座提供額外的空間并更方便放置待測樣品。
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•探針臺面前部開放，*的“Top Hat”結構，保障干燥、遮光的封閉測試環境。
•*的電纜槽更方便管理探針臺的電纜并減小電磁應力帶來的影響。
可定制升級附件：
? 選擇可獨立/可調節顯微鏡橋結構；
? 屏蔽箱：低溫下，提供絕緣、干燥遮光環境；
? 高溫卡盤（可選）；
? 探針卡夾具
? 視頻顯示模塊；
? 手動/半自動探針座座模塊；
? CCD顯示模塊
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