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小型超輕量無線方式雙軸精密數字水準儀可以一邊看監視器一邊看氣泡式水準器的感覺來調整。【水準器（發送側）、顯示器（接收側）分離類型】1）輕量超小型化?????在不能放置普通水準器的部位的水準測量中發揮威...
◇特點◇●光強反饋功能●環境光防護功能●自動歸零校準功能●每個槽最多可輸入12條校準曲線●采用AA電池供電，連續使用時間增加到70小時污泥接口、水深除測量外，還具備污泥容積指數（SVI）、污泥回流率（...
IG-410光澤度計的運用方向指南洗車、打蠟、油漆它也可用作銷售工具，以檢查車身涂層和蠟的效果和變質，并在涂層變質時重新涂抹。在局部涂裝或修理汽車時檢查光澤的均勻性時，可以通過數值掌握修理部分是否具有...
激光微規的特點3600次/秒的超高速測量，最快（D7系列）與我們的傳統機器（LMG5系列）相比，LMG7系列實現了兩倍的測量次數（3600次/秒），具有高速穩定的控制電路。它還可以抵抗測量對高速移動的...
潤滑油自動消耗測量裝置的原理一種在發動機運轉時連續測量油耗的裝置。實現了測量時間的縮短和測量精度的提高。該設備在工作臺上進行的發動機性能測試中連續測量發動機運行期間消耗的潤滑油重量。分為稱重部分、電氣...
日本雞蛋品質測定裝置的原理蛋品質測定的主要指標為哈夫單位（HaughUnit)和蛋黃系數（Yolkindex)。DET6500把以上兩項進行自動演算并顯示。哈夫單位(Haughunit)哈夫單位是19...
X射線熒光分析儀的原理熒光X射線的產生當樣品被初級X射線照射時，電子被X射線的能量翻轉，原子被激發。外層電子落到那里，發射出與能量差相對應的熒光X射線。定性分析是可能的，因為此時產生的熒光X射線具有元...
motoyama的電爐如何選擇？有多種類型的電爐可以燒制樣品。因此，有必要了解要燒制的樣品應該選擇哪種類型的電爐，這樣才能高效、經濟地燒制。在這里，我們將介紹主要電爐的結構和特點，您可以在使用電爐時參...
特斯拉計探測用超細探頭介紹掌握用最小的探頭就能完成的磁通量接近測量！標準型探頭FC-150標準型探頭FC-150扁平型寬1.5毫米x厚1.2毫米?FC-1506扁平型寬1.5mmx厚0.6mm?FC-...
日本ADS特斯拉計探頭的操作使用為了正確測量多極磁場分布，有必要減小作為傳感器的霍爾元件的尺寸。由于這種霍爾元件（傳感裝置）的小型化，從元件輸出的信號本身就變成了非常微小的信號。為了放大這種微小的信號...
微小磁場的測量技術為了測量微小的磁場，重要的是使霍爾元件探頭和磁敏部分之間的距離更小（理想情況下為0）。由于該探頭元件的磁敏部分*絕緣，因此即使與測量樣品接觸也可以進行測量。此外，與以往的70μm2相...
激光濁度計的原理激光濁度計內置微處理器，配置先進，功能強大，是非常精密的濁度測量儀，基于880nm的紅外線光源透過光學透鏡并穿透樣品液，按ISO7072標準測90°方向的散射光原理，此激光濁度計可使用...
SiC復合材料熱射流率檢測分析使用熱顯微鏡TM3，您可以自由測量甚至是微小顆粒的熱射流率，這在以前是很困難的。粒徑約為100μm。顆粒是SiC（碳化硅）。用于下一代半導體材料（寬帶隙半導體）、研磨用磨...
各種薄板材料的導熱系數分析評估薄板材料的熱物理性能。可測量的樣品厚度為10至2000μm。不關心樣品外形的測量典型樣品的熱擴散率測量結果樣本測量值(m2s-1)參考值(m2s-1)*穩定氧化鋯1.1×...
日本高性能粒度測量機的特點FineJetSheave是一種使用篩網的高性能粒度計數器。基于壓縮機的空氣噴射清潔機制允許使用細篩網（例如75-20μm）輕松準確地篩分任何干粉。?即使是超細篩網也可以篩干...
NU污泥密度計/界面計的技術概述在不受色度、pH值和氣泡影響的情況下測量污泥濃度基于超聲波衰減量的濃度轉換。不受污泥色度、pH值和電導率影響的穩定濃度測量振蕩頻率分三步切換和測量，以校正氣泡的影響。提...
關于電暈放電表面處理的原理將兩個金屬體(電極)以恒定距離(t)放置在空氣中，并在兩個電極之間連接高壓發生器(E)。接下來，隨著電源電壓的逐漸增加，您可以在電極之間看到一定值的聲光條紋。(見圖1)圖1在...
紫外線強度計的原理紫外線照度計是一種專門測量光度、亮度的儀器儀表。就是測量光照強度(照度)是物體被照明的程度，也即物體表面所得到的光通量與被照面積之比。照度計通常是由硒光電池或硅光電池和微安表組成。其...
日本seric人工太陽光線照明技術介紹SERIC株式會社的人工太陽照明燈“SERICXELIOS”,可提供各種客戶需要的太陽光。有些色彩的再現、色彩的確認、攝影等，需要在太陽光等同的可視光線下才能進行...
Quantum手持式浮塵檢測技術概述它是一種可以很容易地看到附著在產品上的灰塵和劃痕，以及設備和工作環境等粗顆粒（灰塵和異物）的燈。清潔檢查燈通過結合暗場照明法、廷德爾現象和斜光法(*)來可視化異物。...
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