當前位置:深圳市秋山貿易有限公司>>技術文章>>X射線熒光分析儀的原理及運用
X射線熒光分析儀的原理
當樣品被初級 X 射線照射時,電子被 X 射線的能量翻轉,原子被激發。外層電子落到那里,發射出與能量差相對應的熒光X射線。定性分析是可能的,因為此時產生的熒光 X 射線具有元素的能量。也可以從熒光 X 射線的強度進行定量分析。
X射線熒光分析儀的運用
土壤中的重元素分析
焚燒灰、工業廢物、廢水、粉塵、電鍍液、污泥
RPF、礫石、爐渣等的分析
電子零件中有害重金屬的測量
半導體和磁盤的薄膜厚度測量
電極多層厚度和結構分析
電子零件鍍層厚度和結構的分解
礦石勘探
粘土礦物、土壤、巖石和回收材料的分析
分析果樹和煙草等植物的葉子
鋼鐵、有色金屬
冶煉渣分析
焊錫、貴金屬、合金、有色金屬的主要成分雜質分析
催化劑和涂料的分析
重油中 S、V 和重金屬的分析
潤滑油中添加元素分析
顏料和防銹劑的成分分析
醫藥原料、中間產品、成品分析
材料/零件材料的判別分析
表面處理劑分析
表面膜厚測量
埋藏文物和黑曜石的 Sr/Rb 分析
評估珠寶、繪畫和藝術品
貴金屬配件分析
探索機場和海關
法醫判斷分析
食品中異物及添加劑分析
食品容器的雜質分析
陶瓷、水泥、玻璃和油漆的成分分析
打印機彩色墨水的管理與分析
塑料中的硅分析
磚和粘土的分析
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責,環保在線對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。