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蘇州安而森試驗設備有限公司
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高溫高濕反偏試驗系統（H3RTB) 高溫高濕反偏試驗系統（H3RTB)用于功率半導體器件的環境老化試驗，比如 Si/SiC/GaN 材料的IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的高溫，高濕，偏壓條件下對濕氣的抵抗能力，加速其失效進程，同時可附帶評價器件外觀的寢蝕試驗。 ......
| 產品型號 | AS-H3TRB-C8 | AS-H3TRB-C16 | AS-H3TRB-H8 | |
| 箱體尺寸 | ||||
| 試驗箱內容積 | 升（L) | 408 | 408 | 408 |
| 內箱尺寸 （mm） | 寬（W) | 600 | 600 | 600 |
| 高（H) | 800 | 800 | 800 | |
| 深（D) | 850 | 850 | 850 | |
| 外箱尺寸 （mm） | 寬（W) | 2000 | 2000 | 2000 |
| 高（H) | 19150 | 19150 | 19150 | |
| 深（D) | 1180 | 1180 | 1180 | |
| 技術參數 | ||||
| 適用器件 | 全橋、SCR、三極管、場效應管等 | IGBT/DIODE/MOSFET/BJT/SCR 等器件 | ||
| 試驗箱溫度范圍 | -20~150℃ | -70~180℃ | ||
| 試驗通道 | 8個 | 16個 | 8個 | |
| 電源數量 | 根據客戶需求提供≤8臺 | |||
| 試驗電源 | ≤300V | ≤6000V | ||
| 老化板 | 可按客戶的器件封裝定制老化板。 | |||
| 供水方式 | 手動和自動補水 | |||
| 水質要求 | 純水 | |||
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