精譜測控薄膜涂層測厚儀可以幫助我們實(shí)現(xiàn)高效的厚度檢測服務(wù)，可以實(shí)現(xiàn)高效、無損的測量。用戶可以通過這款設(shè)備提高檢測效率和生產(chǎn)精度。用戶可以選擇薄膜測試儀來提高設(shè)備的檢測效率，提供給市場更加優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品。
精譜測控薄膜涂層測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測量原理的測厚儀等。
精譜測控薄膜涂層測厚儀（技術(shù)方案）：
入射光在膜的上下表面發(fā)生多次反射
反射光的強(qiáng)度和薄膜折射率，基底(substrate)折射率及膜厚，波長有關(guān)
在已知折射率的情況下，根據(jù)測量出的反射光強(qiáng)和波長的函數(shù)，計(jì)算出膜厚
精譜測控薄膜涂層測厚儀的功能介紹：
1.測量鍍膜或涂布厚度，厚度范圍在10納米-100微米，準(zhǔn)確度達(dá)到2納米或厚度0.4%，精度達(dá)到0.1納米，測量穩(wěn)定性0.3納米。
2.精確測量樣品的顏色和在380-780納米可見光范圍內(nèi)的反射率曲線。
3.測量軟件支持20層以內(nèi)的物理模型，并對多個(gè)參數(shù)進(jìn)行同時(shí)測量。
4.具有折射率模型編輯擬合功能，對于100納米-幾個(gè)微米的膜，可以在折射率未知的情況下，結(jié)合軟件對膜厚，折射率參數(shù)進(jìn)行同時(shí)測量。
5.軟件具有對樣品的粗糙度，背面反射，多角度入射進(jìn)行建模的功能軟件還可針對已知樣品的模型，使用不同入射角和偏振進(jìn)行仿真以計(jì)算不同情況下反射率曲線。
6.軟件還擁有近千種材料的材料數(shù)據(jù)庫，同時(shí)還支持函數(shù)型(Cauchy,Cauchy-Urbach,Sellmeier),物理光學(xué)（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型（MaxwellGarnett,Bruggeman）EMA等折射率模型
7.客戶還可以通過軟件自帶數(shù)據(jù)庫對材料，菜單進(jìn)行管理并回溯檢查測量結(jié)果。
8.我們還提供針對客戶在線系統(tǒng)的定制檢測系統(tǒng)。
