TE Connectivity 電阻器 LR1系列, 電阻值3.3kΩ, 額定功率0.6W, 容差±1%, 金屬膜, 工作溫度+155°C, 溫度系數(shù)±50ppm/°C
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北京北廣精儀儀器設備有限公司
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| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號BEST-300C
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地
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更新時間：2022-08-31 13:17:13瀏覽次數(shù)：257次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線四探針低電阻率測試儀硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等.
四探針低電阻率測試儀功能概述Overview：
1. 可以測試到1uΩ方阻值
2. 恒流輸出
3. 液晶顯示
4. 自動數(shù)據(jù)測量
5. 雙電組合測試方法.
6. 提供中文或英文語言版本.
7. PC軟件運行.
四探針低電阻率測試儀
適用范圍Widely used：
1.覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
2.硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，
3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，
4.抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等
步驟及流程
1. 開啟電源，預熱5分鐘.
2. 裝配好探頭和測試平臺.
3. 設定所需參數(shù).
4. 測量樣品
5. 導出數(shù)據(jù).
優(yōu)點描述：
1. 自動量程
2. 準確穩(wěn)定性.
3. 雙電組合測試方法
4. 標準電阻校準儀器
5. PC軟件運行
6. 同時顯示電阻、電阻率、電導率數(shù)據(jù).
7. 可顯示5位數(shù)字.
8. 中、英文界面
1.方塊電阻范圍： 10-6～2×105Ω/□
2.電阻率范圍： 10-7～2×105Ω-cm
3.測試電流范圍： 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
4.電流精度： ±0.1%讀數(shù)
5.電阻精度： ≤0.3%
6.PC軟件界面： 電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、
探針形狀、探針間距、厚度 、電導率、電阻率、壓強
7.測試方式: 四探針測量（體電阻率）和四端法（接觸電阻測量）
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