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aixACCT雙光束激光干涉儀aixDBLI

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更新時(shí)間：2024-05-13 08:28:35瀏覽次數(shù)：147次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品介紹機(jī)電大信號(hào)應(yīng)變和極化測(cè)量

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹

機(jī)電大信號(hào)應(yīng)變和極化測(cè)量。

壓電小信號(hào)系數(shù)和介電常數(shù)與直流偏置電壓的關(guān)系。如果已知?jiǎng)偠戎担瑒t可以使用附加的aixPlorer軟件工具從這些值得出耦合系數(shù)。

電氣和機(jī)電性能疲勞。

作為電氣薄膜測(cè)試的創(chuàng)新者，aixACCT Systems已將的雙光束技術(shù)擴(kuò)展到可商用的雙光束激光干涉儀系統(tǒng)，該系統(tǒng)可進(jìn)行長(zhǎng)達(dá)8英寸的晶圓表征。用于測(cè)量d33的雙光束激光干涉儀（aixDBLI）可提供經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的精度（x切割石英），可達(dá)0.2 pm / V。該系統(tǒng)的主要特點(diǎn)是單次測(cè)量的采集時(shí)間極短，僅為幾秒鐘。基于新的數(shù)據(jù)采集算法，測(cè)量速度提高了100倍。這使得比較了以相同激勵(lì)頻率記錄的薄膜的電氣和機(jī)械數(shù)據(jù)。由于差分測(cè)量原理，消除了樣品彎曲的影響，這是使用原子力顯微鏡（AFM）進(jìn)行此類(lèi)測(cè)量的主要障礙。

產(chǎn)品參數(shù)

分辨率：1 pm通過(guò)x-cut Quartz測(cè)試

位移/應(yīng)變測(cè)量：

50 Hz-5 kHz

100 mV至10 V

Max.25 V（可選）

壓電d33系數(shù)：

偏壓（1 mHz至1 Hz）：100 mV至10 V

Max.25 V（可選）

小信號(hào)（1 kHz至10 kHz）：100 mV至10 V

電致伸縮M33：與d33相似

C（V）測(cè)量：