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45MG儀器是一款帶有多種標準測量功能和軟件選項的超聲測厚儀。這款*特色的儀器與奧林巴斯的所有雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款可為幾乎所有測厚應用提供相應的解決方案的儀器。在使用基本配置時，是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀，操作人員經過基本的培訓，就可完成常用的測厚應用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外，大多數選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。
45MG測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結構的剩余厚度。這些應用中常使用的是雙晶探頭。
B掃描成像（基于時間）
45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實時厚度讀數轉換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發生的變化時，這個標準功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結小值功能用于顯示掃查區域的小厚度值。可選45MG數據記錄器多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數。
高溫表面
45MG測厚儀配上D932系列探頭（D790、D790-SM、D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達500 ºC）的理想選擇，并可獲得穩定的厚度讀數。45MG的零位補償功能，通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產生的溫度變化，提高了在高溫表面上進行測量的性。
穿透涂層技術
使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，要得到金屬的厚度，無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
單晶軟件選項
用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的極為的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
使用單晶探頭可以測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。
*注如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項。
單晶高高穿透軟件選項
用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。 這個選項包含單晶選項。
高穿透軟件選項可以對很多鑄造金屬部件及聲波衰減性*的材料進行測量。
應用設置調用功能簡化了厚度測量操作。用戶在選擇了任何一個存儲探頭后，45MG測厚儀即會調出所有與這個內置探頭相關的參數。
存儲的標準設置
45MG儀器帶有21個標準單晶探頭設置，可用于常用的測量操作。這些默認探頭設置可用于各種各樣的厚度測量應用。
45MG還可存儲多35個自定義單晶探頭的設置，其中還包括校準信息。用戶可以連接適當的探頭，并調用設置文件，然后儀器便可進行厚度測量，甚至還可完成復雜的測厚應用。
45MG儀器可以測量材料的聲速。在材料聲速與其它屬性密切相關的應用中，這個標準功能非常有用。典型的應用包括監控鑄造金屬的球化程度，以及監控復合材料/玻璃纖維的密度變化。
使用20 MHz延遲塊探頭測量薄塑料材料。
測量金屬板因彎曲變形而變薄的情況
使用V260-SM Sonopen探頭對薄玻璃進行測量。
可測量包括塑料、金屬、橡膠、玻璃、陶瓷及復合材料在內的很多材料的厚度。
45MG可以選配適用于各種用途的測量探頭
雙晶探頭適用于腐蝕測厚，所有標準雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每個特定探頭自動調用默認V聲程校正。
單晶探頭適用于厚度測量，單晶探頭需要單晶軟件與高穿透軟件選項一起使用。
Sonopen探頭適用于極其狹窄的區域，延遲塊可以更換，其端部為錐形，這種探頭可以在測量渦輪葉片厚度及塑料容器的內圓角的厚度等應用中提供可靠的厚度讀數
水浸探頭，水浸探頭設計目的是在水中傳播并接收超聲波。當被測樣件的幾何形狀較為復雜或進行在線檢測時，通過水浸技術獲得的厚度讀數通常更為可靠。典型的離線應用包含對小直徑塑料或金屬管件的壁厚測量，掃查或旋轉測量，以及對大幅彎曲的樣件進行的厚度測量。在某些應用中可能需要探頭觸及到極其狹小的區域。
Microscan延遲塊探頭可在測量極薄材料，溫度*，或要求*厚度分辨率的應用中，發揮的測量性能。
我們提供適用于所有超聲測厚儀器的各種探頭線纜。
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