菲希爾（FISCHER）X-RAY 系列鍍層測厚儀的宣傳資料

【資料簡介】

從1953年至今，菲希爾（FISCHER）公司不斷地在涂鍍層測 厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發  展出創新型的測量技術。如今，菲希爾的測量技  術已在世界各地得到應用，滿足客戶對儀器準確  度、精度和可靠性的要求。  

作為在生產測量中使用X射線熒光法的，菲希爾（FISCHER）很早就意識到此方法在鍍層厚度測量和材料  分析領域的巨大潛力，因而開始研發和制造工業  級耐用的測量儀器。*臺菲希爾X射線儀器在  二十世紀八十年代初就已面世。  

從那時起，菲希爾（FISCHER）不斷改進和研發X射線熒光技  術，使得該項技術在今天居于地位。其中的  一個例子是透明的狹縫設計，從而使用戶可以與  基本射線同方向查看樣品。另外，打開儀器艙門  自動彈出測量平臺（“彈出功能”）也是由  菲希爾實現的。在軟件方面，菲希爾是*使用  *基本參數法來計算光譜的公司。

菲希爾（FISCHER）在生產過程實行嚴格的質量標準控制，在  對零部件進行苛刻的檢驗，確保菲希爾X射線儀  器有著的高可靠性。  

目前，有超過10000臺X射線儀器投入使用，而FISCHERSCOPE®  X-RAY品牌也已成為強大，可靠和耐用的X射線熒光測量設備的代名詞。  

的工業制造和科學研究都依賴于這些可靠且的儀器設備。菲希爾（FISCHER）一貫以持續的研發、先進的設備和創新的軟件來迎接挑戰。因為只有經過精心構思設計和按照高標準制造的產品，zui終  才能有*的工作性能。也只有這樣的產品才能配得上菲希爾的品牌。菲希爾是您可信賴的品牌。

能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層  厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性  分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統  的厚度測量。無論是在實驗室還是工業生產環境  中，這一方法都能勝任，并還可以與現代化  設備一起發揮作用。  

EDXRF作為一種常用測試方法，有著其突出的優  勢。它幾乎可以測量所有工藝相關元素，并且工  作時無損且不接觸樣品。測量時間一般在數秒鐘  內，很少多于一分鐘。通常不需要復制的樣品制  備，即可進行快速測量。利用該方法，可以同時  測量均質材料及鍍層的厚度和化學成分。不僅如  此，EDXRF方法檢測各種類型樣品里的微量有害  物質。  

此外，X射線熒光分析是一種清潔的測量方法，  測量過程不使用任何化學制品。由于有著合理精  巧的設計，X射線不會對操作人員和環境構成任  何威脅：菲希爾X射線儀器是安全可靠的。

X射線熒光分析基于以下物理現象：樣品材料中的原  子由于受到初級X射線轟擊，從而失去內層軌道中的  某些電子。失去電子所留下的空穴會被外層電子來填  補，在填補的過程中，會產生每個元素*的特征X  射線熒光。接收器探測到該熒光射線后，便能提供樣  品的材料組成等信息。

由于能量色散X射線熒光光譜法可以分析材料成分和  測量薄鍍層及鍍層系統，因而應用廣泛：  

在電子和半導體產業里，測量觸點上薄金，鉑和  鎳層厚度或痕量分析。  

在鐘表和珠寶行業或采礦精煉工業中，分析  貴金屬合金組分。  

在質量管控和來料檢驗中，需要確保產品或零部  件*材料設計規范。如在太陽能光伏電池  產業中，光伏薄膜的成分組成和厚度大小決定了  光伏電池的效率。在電鍍行業中，則需要測量大  批量部件的厚度。  

對于電子產品的生產者和采購者，檢驗產品是否  符合《限制在電子電氣產品中使用有害物質的指  令》（RoHS指令）也是十分關鍵的。  

在玩具工業中，也需要有可靠的有害物質檢測手  段。  

對于以上測量應用，菲希爾的FISCHERSCOPE X-  射線光譜儀都能勝任。

將X射線熒光的測量原理轉變為耐用高精度的測  量設備，能在實驗室和日常工業生產中可靠工  作，需要有開創性的創造力和持之不懈的研發  能力。在菲希爾，我們激情飽滿，全力以赴。這  點，您可以在FISCHERSCOPE X射線儀器廣泛而  多樣的產品型號中一窺究竟  

比如，測量方向為自下往上型的光譜儀是快速便  捷地測量大批量生產零件的理想選擇。然而對于  諸如硅晶片等不適合接觸測量臺的樣品，那么正  確的選擇應該是測量方向為從上往下的儀器。  

另一方面，如果要測量引線框架上的針腳或  判斷某一區域內的均勻性時，就需要有極小測量  面積并且有高精度可編程XY平臺定位的儀器。  

對于在運行中的生產線上進行在線測量的要求嚴  格的場合，就需要一個*不同的測量系統，比  如可以直接將測量頭置于真空艙中。