奧林巴斯38DL PLUS超聲波測厚儀產品資料

【資料簡介】

測量
雙晶探頭測量模式 從激勵脈沖后的延時到*個回波之間的時間間隔。
THRU-COAT ®
測量模式
利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度
（使用D7906-SM和D7908探頭）。
穿透漆層回波到回波
測量模式
在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的
厚度。
單晶探頭測量模式 模式1： 激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔
模式2： 延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔（使
用延遲塊或水浸探頭）
模式3： 在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰
底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水
浸探頭）
氧化層模式：可選。
多層模式：可選。
厚度范圍 0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度
和所選配置而定。
材料聲速范圍 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
分辨率（可選擇） 低分辨率：0.1毫米
標準分辨率：0.01毫米
高分辨率（可選項）：0.001毫米
探頭頻率范圍
標準：2.0 MHz～30 MHz（–3 dB）
高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（–3 dB）