超聲波檢測中聲速和探頭零點校準是因為狀態(tài)行所顯示參數(shù)的計算都是與聲速和探頭零點相關(guān)，所以在探傷前請務(wù)必校準；聲程校準是為了使屏幕上顯示適當聲程范圍內(nèi)的波形，以便更好地判斷、評價缺陷。

 一、直探頭校準（單晶探頭）

根據(jù)聲速和探頭零點的已知情況，確定校準步驟。若聲速未知，則應(yīng)*行聲速校準；若聲速已知，則跳過聲速校準，調(diào)節(jié)聲速為已知聲速后用一點法進行探頭零點校準。

 1、已知材料聲速校準

步驟：

(1) 材料聲速設(shè)置為已知材料聲速，

(2)  把探頭耦合到校準試塊上，

(3)  設(shè)定閘門邏輯為單閘門方式，即設(shè)為進波報警或失波報警邏輯，把閘門套住一次回波，此時聲程測量的就是一次回波處的聲程，

(4)  調(diào)節(jié)探頭零點，使得狀態(tài)行的聲程測量值（S）與試塊的已知厚度相同，此時所得到的探頭零點就是該探頭的準確探頭零點。

 2、未知材料聲速校準

 步驟：

(1)  先初步設(shè)定一大概的聲速值；

(2)  調(diào)節(jié)閘門邏輯為雙閘門方式；

(3)  將探頭耦合到一個與被測材料相同且厚度已知的試塊上；

(4)  移動閘門A的起點到一次回波并與之相交，調(diào)節(jié)閘門A的高度低于一次回波zui高幅值至適當位置，閘門A不能與二次回波相交；

(5)  移動閘門B的起點到二次回波并與之相交，調(diào)節(jié)閘門B的高度低于二次回波zui高幅值至適當位置，閘門B不能與一次回波相交；

(6)  調(diào)節(jié)聲速，使得狀態(tài)行顯示的聲程測量值（S）與試塊實際厚度相同，此時，所得到的聲速就是這種探傷條件下的準確聲速值。

(7)  設(shè)定閘門邏輯為單閘門方式，即設(shè)為進波報警或失波報警邏輯，此時聲程測量的就是一次回波處的聲程；

(8)  調(diào)節(jié)探頭零點，使得狀態(tài)行的聲程測量值（S）與試塊的已知厚度相同，此時所得到的探頭零點就是該探頭的準確探頭零點。

材料聲速未知，設(shè)置接近的材料聲速為5920m/s，設(shè)置閘門邏輯為雙閘門方式，同時探頭零點設(shè)置為0；將探頭耦合到50mm的標定試塊上，并將閘A門調(diào)到與一次回波相交的位置，將B閘門調(diào)到與二次回波相交的位置；

 二、雙晶探頭校準 增加聲速值，直到一、二次回波間聲程顯示的值為50mm，現(xiàn)在便測得了材料的準確聲速是6024m/s；再將閘門設(shè)置為單閘門方式，測量一次回波處的聲程，連續(xù)調(diào)節(jié)探頭零點直到一次回波處測得的聲程值為50mm，現(xiàn)在便測得了探頭零點為0.125us。

校準步驟：

(1) 在收發(fā)組內(nèi)設(shè)置雙探頭狀態(tài)；

(2) 依照當前測試任務(wù)和選用探頭設(shè)置好聲程、收發(fā)組各功能項目；

(3) 將探頭耦合到標定試塊上，調(diào)節(jié)基本組中的探頭零點直到標定回波接近要求的位置，同時二次回波也在顯示范圍之內(nèi)；

(4) 調(diào)節(jié)增益值直到幅值zui大的回波接近全屏高度；

(5) 在閘門組內(nèi)打開雙閘門；

(6) 在設(shè)置功能組選擇前沿測量方式；

(7) 移動閘門A的起點到一次回波并與之相交，閘門A不能與二次回波相交；

(8) 移動閘門B的起點到二次回波并與之相交，閘門B不能與一次回波相交；

(9) 調(diào)整閘門高度，使其位于兩個校準回波前沿的相同位置；

(10) 然后改變聲速，直至顯示出標定試塊的厚度值；

(11) 設(shè)定閘門邏輯為單閘門方式，即設(shè)為進波報警或失波報警邏輯，此時聲程測量的就是一次回波處的聲程；

(12) 調(diào)節(jié)探頭零點，使得狀態(tài)行的聲程測量值與試塊的已知厚度相同。

 三、斜探頭校準

 1、校準入射點（探頭前沿）：用IIW試塊（又稱荷蘭試塊）或CSK－IA試塊測斜探頭零點，將儀器聲速調(diào)節(jié)為3230m/s，顯示范圍為150mm，然后開始測試，用戶如圖將探頭放在試塊上并移動，使得R100mm的圓弧面的反射體回波達到zui高，用直尺量出探頭前端面和試塊R100mm弧圓心距離，此值即為該探頭的前沿值，R100mm弧圓心對應(yīng)探頭上的位置即為探頭入射點。 斜探頭校準通常需要以下步驟：1、校準入射點（探頭前沿）；2、校準探頭角度（K值）；3、校準材料聲速；4校準探頭零點。

2、校準探頭角度（K值）：用角度值標定的探頭可用IIW試塊校準，如果是用K值標定的探頭，可用CSK－IA試塊校準。這兩種試塊上有角度或K值的標尺，按探頭標稱值選擇合適的標尺（右圖所示，在IIW試塊上側(cè)可校準60－76度的探頭，下側(cè)可校準74－80度的探頭，CSK-IA試塊上側(cè)可校準K2.0、K2.5、K3.0的探頭，下側(cè)可校準K1.0、K1.5的探頭。請按試塊上的標定值選擇用合適的校準試塊及校準方法）。如圖放置探頭，左右移動使得反射體回波達到zui高，此時入射點對應(yīng)的刻度就是探頭的角度或K值。

 3、校準材料聲速按照1中所述找到R100mm的zui高反射波，調(diào)節(jié)顯示范圍使得屏幕上能顯示該弧面的二次回波，選擇閘門方式為雙閘門，調(diào)節(jié)A閘門與一次回波相交，調(diào)節(jié)B閘門與二次回波相交，調(diào)節(jié)聲速值使得狀態(tài)行中聲程測量值（S）為100，此時得到的聲速值即為該材料的實際聲速值。

4、校準探頭零點保持上面的測量狀態(tài)，將閘門方式改為正或負，調(diào)節(jié)探頭零點使得狀態(tài)行中聲程測量值（S）再次為100，此時得到的探頭零點值即為該探頭的零點值。

 斜探頭的校準方法有很多，并不*拘泥于用標準試塊進行校準，也可以用已知深度的小孔進行校準，理論上參考反射體越小，校準的精度越高，但校準的難度也相應(yīng)的加大。用小孔校準時可通過測