深圳市新朗普電子科技有限公司作者
hbzhan內容導讀:涂鍍層測厚儀厚度測量是涂鍍層物性檢測的重要項目之一,伴著新型工程材料開發,微電子技術應用和標準化事業進展,涂鍍層測厚技術近'"幾年來國內外得到迅速發展。
與此同時,采取多種原理,應用范圍廣泛,有較高科技含量,日趨智能化的各類測厚儀相繼問世,有力地推動了工程物理檢測的發展。與*技術和同類產品相比,目前我國涂鍍層測厚技術在總體上相當于先進工業國家19世紀90年代初期水平,面對入世和經貿一體化的挑戰,我們當奮起直追,增強參與競爭的適應力和創新意識,搶抓機遇,努力實現測厚技術的跨越式發展。
操作步驟
1.進行校準:MINITEST600有以下三種不同的校準方式:
①標準校準:適合平整光滑的表面和大致的測量。例如,低于一點校準精度要求的場合;
②一點校準:按ZERO鍵,啟動零位校準,顯示屏將顯示ZERO(閃)和MEAN(不閃)字樣,“MEAN”表示顯示的是平均值;將探頭置于無涂層樣板上(即零測厚),“滴”聲后提起探頭。重復多次,直到顯示屏始終顯示先前讀數的平均值;按ZERO鍵,結束校零,“ZERO”停止閃爍,置零(無涂層樣板校準)結束。此法用于允許誤差不超過4%的場合,探頭誤差范圍應另考慮。
③二點校準:無涂層樣板校準后,按CAL鍵開始用標準箔校準,顯開啟儀器校準儀器進行測量關閉儀器,示器上出現CAL(閃)MEAN(不閃)字樣,將校準箔置于無涂層樣板上,放上探頭,“滴”聲后再提起探頭,重復多次,直到顯示器顯示的讀數大致與所選標準箔的厚度相當,按上下鍵將讀數調節至標準箔的厚度,按CAL鍵,“CAL”停止閃爍,校準完畢。此法用于誤差范圍在2%~4%(zui大)之間的測量,探頭誤差范圍應另考慮。
2.開始測量:測量時須握住測頭上套管,將探頭置于要測量的涂層上,保持測頭軸線與被測面垂直,“滴”聲后提起探頭,讀取讀數。
3.測量完畢后,關閉電源。
與此同時,采取多種原理,應用范圍廣泛,有較高科技含量,日趨智能化的各類測厚儀相繼問世,有力地推動了工程物理檢測的發展。與*技術和同類產品相比,目前我國涂鍍層測厚技術在總體上相當于先進工業國家19世紀90年代初期水平,面對入世和經貿一體化的挑戰,我們當奮起直追,增強參與競爭的適應力和創新意識,搶抓機遇,努力實現測厚技術的跨越式發展。
操作步驟
1.進行校準:MINITEST600有以下三種不同的校準方式:
①標準校準:適合平整光滑的表面和大致的測量。例如,低于一點校準精度要求的場合;
②一點校準:按ZERO鍵,啟動零位校準,顯示屏將顯示ZERO(閃)和MEAN(不閃)字樣,“MEAN”表示顯示的是平均值;將探頭置于無涂層樣板上(即零測厚),“滴”聲后提起探頭。重復多次,直到顯示屏始終顯示先前讀數的平均值;按ZERO鍵,結束校零,“ZERO”停止閃爍,置零(無涂層樣板校準)結束。此法用于允許誤差不超過4%的場合,探頭誤差范圍應另考慮。
③二點校準:無涂層樣板校準后,按CAL鍵開始用標準箔校準,顯開啟儀器校準儀器進行測量關閉儀器,示器上出現CAL(閃)MEAN(不閃)字樣,將校準箔置于無涂層樣板上,放上探頭,“滴”聲后再提起探頭,重復多次,直到顯示器顯示的讀數大致與所選標準箔的厚度相當,按上下鍵將讀數調節至標準箔的厚度,按CAL鍵,“CAL”停止閃爍,校準完畢。此法用于誤差范圍在2%~4%(zui大)之間的測量,探頭誤差范圍應另考慮。
2.開始測量:測量時須握住測頭上套管,將探頭置于要測量的涂層上,保持測頭軸線與被測面垂直,“滴”聲后提起探頭,讀取讀數。
3.測量完畢后,關閉電源。
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