X熒光光譜儀
分析原理:能量色散 X 射線熒光分析法
分析元素:Na ~ U 任意元素
檢出下限(Cd/Pd):Cd/Pb/Hg/Br ≦ 2 ppm, Pb ≦5 ppm
樣品形狀:任意大小,任意不規則形狀
樣品類型:塑膠 / 金屬 / 薄膜 / 粉末 / 液體
X熒光光譜儀
X 射線管:
靶 材:Mo
管 電 壓:5 ~50 kV
管 電 流:*大 1 ~ 1000 μA
照射直徑:2 、 5 、 8mm 自動轉換
探 測 器:Si(PIN) 半導體高分辨率探測器
濾 光 片:八種新型濾光片自動選擇
樣品定位:微動載物平臺(選配)
樣品觀察:30 倍彩色 CCD 攝像機
微區分析:X光聚焦微區分析系統(選配)
軟 件:定量分析:α系數法 WINDOWS XP
數據處理:
主 機:PC機
內 存:256 MB 以上
硬 盤:40 GB 以上
OS:Windows XP
工作環境:溫度:10 ~ 35 ℃,濕度:30 ~70%R H
電 源:AC 220 V ± 10 % 、50/60 Hz
功 率:1.1kW
重 量:40Kg
外形尺寸:550(W) × 450(D) × 450(H)mm