X熒光光譜儀
分析原理：能量色散 X 射線熒光分析法
分析元素：Na ～ U 任意元素
檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Pb/Hg/Br ≦ 2 ppm, Pb ≦5 ppm
樣品形狀：任意大小，任意不規則形狀
樣品類型：塑膠 / 金屬 / 薄膜 / 粉末 / 液體

X熒光光譜儀
X 射線管：
靶 材：Mo
管 電 壓：5 ～50 kV
管 電 流：*大 1 ～ 1000 μA
照射直徑：2 、 5 、 8mm 自動轉換
探 測 器：Si(PIN) 半導體高分辨率探測器
濾 光 片：八種新型濾光片自動選擇
樣品定位：微動載物平臺（選配）
樣品觀察：30 倍彩色 CCD 攝像機
微區分析：X光聚焦微區分析系統（選配）
軟 件：定量分析：α系數法 WINDOWS XP
數據處理：
主 機：PC機
內 存：256 MB 以上
硬 盤：40 GB 以上
OS：Windows XP
工作環境：溫度：10 ～ 35 ℃，濕度：30 ～70%R H
電 源：AC 220 V ± 10 % 、50/60 Hz
功 率：1.1kW
重 量：40Kg
外形尺寸：550(W) × 450(D) × 450(H)mm