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深圳市卓越儀器儀表有限公司
TA610測量粗糙度平臺
測量平臺,齒條升降,立柱可以隨意轉動,用來測量不容易放置的工件,可提高測量精度。
TA620測量平臺,絲桿升降,平臺上設置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量平臺。
TA630微調平臺,X—Y平面轉角,俯仰角。
TA631微調平臺,X—Y平面轉角。
TA630、631都用來較小幅度的,粗確調整被測量工件的位置,提高測量精度。
TA620測量平臺,TA610測量平臺,TA630631測量(微調)平臺
TA610測量平臺,齒條升降,立柱可以隨意轉動,用來測量不容易放置的工件,可提高測量精度。
TA620測量平臺,絲桿升降,平臺上設置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量平臺。
TA630微調平臺,X—Y平面轉角,俯仰角。
TA631微調平臺,X—Y平面轉角。
TA630、631都用來較小幅度的,粗確調整被測量工件的位置,提高測量精度。
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