日本KOSAKA ET200接觸式臺階粗糙度儀基于Windows 操作系統為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用。ET 200 能精確可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。

詳細介紹

日本KOSAKA ET200接觸式臺階粗糙度儀

日本KOSAKA ET200接觸式臺階粗糙度儀基于Windows 操作系統為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用。ET 200 能精確可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。

配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD原位采集設計，可直接觀察到探針工作時的狀態，更方便準確的定位測試區域。

日本KOSAKA ET200接觸式臺階儀規格
一、測定工件：
1. zui大工件尺寸：φ160mm
2. zui大工件厚度：50mm
3. zui大工件重量：2kg
二、檢出器（pick up）：
1. Z方向測定范圍：Max. 600μm
2. Z方向分解能：0.1nm
3. 測定力： 10uN ~500uN
4. 觸針半徑：2 μm 60°
5. 驅動方式：直動式
6. 再現性：1σ= 1nm(全量程)、1um以下臺階重現性可達0.2nm以下
三、X 軸 (基準軸)：
1. 移動量(zui大測長)：100mm
2. 移動的真直度：0.2μm/100mm
3. 移動,測定速度：0.005~20mm/s
4. 線性尺(linar scale)：分解能 0.1μm
四、Z軸：
1. 移動量：50mm
2. 移動速度：max.2mm/S
3. 檢出器自動停止機能
4. 位置決定分解能：0.1μm
五、工件臺：
1. 工件臺尺寸：φ160mm
2. 機械手動傾斜: ±2° (±1mm/150mm)
六、工件觀察：max.135 倍(可選購其它高倍率CCD)
七、床臺：材質為花崗巖石
八、防振臺(選購)：落地型或桌上型
九、電源：AC220V±10%,
50/60HZ, 300VA
十、本體外觀尺寸及重量：
W500×D440×H610mm, 120kg(不含防震臺)

KOSAKA LAB ET200微細形狀測定機（探針接觸式臺階儀）
株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于1950 年創立的公司，也是日本*家發表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位。