泰克TDS540/TDS540B 經濟型500MHZ數字示波器TDS540/TDS540B--：
TDS540產品信息：
示波器 TDS540
·500MHz帶寬
·高1GS/s采樣率
·四通道
·時間間隔、2ns毛刺、脈沖幅度異常，
邏輯圖及狀態觸發
·1mV/格至10V/格靈敏度
·無限余輝和可變余輝顯示
·記錄長度每通道50000點
·8-bit垂直分辨率，高分辨率方式時
可提高至15bit
·1%垂直精度
·可選FFT，微分及積分
·25種參數自動測量
·高分辨率彩色顯示
·3.5”DOS兼容磁盤
信號采集統
通道數：四個
數字化儀：四個
帶度：500MHz
靈敏度：1mV至/10V格
移位范圍：±5格
偏置±1V.1～99.5mV/格；
±10V100mV～995mV/格；
±100V 1～10V/格
高采樣器：1GS/s
垂直統
直流增益精度：±1.0%
垂直分辨率:8-bit（將10.24個垂直格分成256級）
模擬帶寬選擇：20MHz100MHz或全帶寬
輸入耦合：交流直流或接地
輸入阻抗:1MΩ/10pF或50Ω（交流或直流耦合）
大輸入電壓：±400V(直流+交流峰值)、頻率高于1MHz時，
以20dB/倍頻程下降。1MΩ輸入阻抗或接地耦合。
通道間隔離：≥100MHz時，>100:1; >30:1兩通道之間有著相同
的電壓偏轉數
AC耦合時低頻限制：≤10HzAC/1MΩ耦合時；
≤200KHz AC/50Ω耦合時；
時基統
時基：主時基，延遲時基
掃描速度：500ps至10s/格
時基精度：間隔大于等于1ms時為0.0025%
記錄長度：500至15000點（50000點選件1M）
預觸發位置：記錄0～間
采集方式
峰值檢測：捕捉高頻和隨毛刺，在有實時取樣方式下，捕捉大于等于4ns的毛刺。
取樣：只取樣數據
包絡：單次或多次采集到的大/小值
平均：可選擇2次至10000次平均
高分辨率：提高采集低頻信號的垂直分辨率和和減小噪聲，例如50μs/格或更慢時達12-bit
觸發統
觸發器：主觸發，延遲觸發
主觸發方式：自動，常態，單次
延遲觸發：時間延遲，事件延遲或時間和事件延遲
時間延遲范圍：16ns至250s（掃描時間≤10μs）
15.1ns至250s（掃描時間≥25μs）
事件延遲范圍：1至9999999個事件
外觸發輸入口：>1.5KΩ；大直流加交流峰值輸入電壓為±20V。
顯示
波形類型：點陣或矢量，無限余輝或可變余輝，余輝時間為250ms至10s
灰度：16級亮度分級（可變余輝時）提供有關快變信號的‘Z 軸’信息
更新率：無限余輝時，若每波形為500點，則每秒鐘更新200次
CRT類型：7寸，磁偏轉，水平光柵掃描，P4白色磷粉
分辨率：640×480
ZOOM（縮放）
ZOOM特性可將波形放大，壓縮和進行水平，垂直位移，在不影響正常波形采集的情況下進行波形的精密比較和細微研究，與高分辨率或平均方式一起使用時，有效的垂直動態范圍為100格。
閾值：可以百分數或電壓值設定
門限：用垂直雙線可將記錄的任意部分隔離出來用于測量
快照：一次過完成單波形的25種參數測量，并即刻將結果顯示出來。
游標測量：值，相對值，電壓，時間和頻率
游標類型：水平雙線（電壓）；垂直雙線（時間）；可獨立使用或在跟蹤方式下使用。
波形處理
波形函數：任選（Sinx/x或線性內插法，平均或包絡
的波形函數（選件）：FFT、微分、積分
算術運算：加、減、乘、反相
自動設置：單鍵完成，根據選定信號自動設置垂直、水平和觸發統
自動極限測試：將輸入波形與參考波形的上、下限比較
計算接口
GPIB（IEEE-488.2）可程控能力：
全聽/講功能：有模式、狀態和測量均可控制。
存貯
波形：4個5000點之記錄，共50000點。
狀態：十個前面板狀態
物理特性
尺寸：236mm(高)×445mm(寬) ×432mm長
重量：12.3公斤
TDS540示波器產品指標： 500MHz帶寬
TDS540產品信息：
示波器 TDS540
·500MHz帶寬
·高1GS/s采樣率
·四通道
·時間間隔、2ns毛刺、脈沖幅度異常，
邏輯圖及狀態觸發
·1mV/格至10V/格靈敏度
·無限余輝和可變余輝顯示
·記錄長度每通道50000點
·8-bit垂直分辨率，高分辨率方式時
可提高至15bit
·1%垂直精度
·可選FFT，微分及積分
·25種參數自動測量
·高分辨率彩色顯示
·3.5”DOS兼容磁盤
信號采集統
通道數：四個
數字化儀：四個
帶度：500MHz
靈敏度：1mV至/10V格
移位范圍：±5格
偏置±1V.1～99.5mV/格；
±10V100mV～995mV/格；
±100V 1～10V/格
高采樣器：1GS/s
垂直統
直流增益精度：±1.0%
垂直分辨率:8-bit（將10.24個垂直格分成256級）
模擬帶寬選擇：20MHz100MHz或全帶寬
輸入耦合：交流直流或接地
輸入阻抗:1MΩ/10pF或50Ω（交流或直流耦合）
大輸入電壓：±400V(直流+交流峰值)、頻率高于1MHz時，
以20dB/倍頻程下降。1MΩ輸入阻抗或接地耦合。
通道間隔離：≥100MHz時，>100:1; >30:1兩通道之間有著相同
的電壓偏轉數
AC耦合時低頻限制：≤10HzAC/1MΩ耦合時；
≤200KHz AC/50Ω耦合時；
時基統
時基：主時基，延遲時基
掃描速度：500ps至10s/格
時基精度：間隔大于等于1ms時為0.0025%
記錄長度：500至15000點（50000點選件1M）
預觸發位置：記錄0～間
采集方式
峰值檢測：捕捉高頻和隨毛刺，在有實時取樣方式下，捕捉大于等于4ns的毛刺。
取樣：只取樣數據
包絡：單次或多次采集到的大/小值
平均：可選擇2次至10000次平均
高分辨率：提高采集低頻信號的垂直分辨率和和減小噪聲，例如50μs/格或更慢時達12-bit
觸發統
觸發器：主觸發，延遲觸發
主觸發方式：自動，常態，單次
延遲觸發：時間延遲，事件延遲或時間和事件延遲
時間延遲范圍：16ns至250s（掃描時間≤10μs）
15.1ns至250s（掃描時間≥25μs）
事件延遲范圍：1至9999999個事件
外觸發輸入口：>1.5KΩ；大直流加交流峰值輸入電壓為±20V。
顯示
波形類型：點陣或矢量，無限余輝或可變余輝，余輝時間為250ms至10s
灰度：16級亮度分級（可變余輝時）提供有關快變信號的‘Z 軸’信息
更新率：無限余輝時，若每波形為500點，則每秒鐘更新200次
CRT類型：7寸，磁偏轉，水平光柵掃描，P4白色磷粉
分辨率：640×480
ZOOM（縮放）
ZOOM特性可將波形放大，壓縮和進行水平，垂直位移，在不影響正常波形采集的情況下進行波形的精密比較和細微研究，與高分辨率或平均方式一起使用時，有效的垂直動態范圍為100格。
閾值：可以百分數或電壓值設定
門限：用垂直雙線可將記錄的任意部分隔離出來用于測量
快照：一次過完成單波形的25種參數測量，并即刻將結果顯示出來。
游標測量：值，相對值，電壓，時間和頻率
游標類型：水平雙線（電壓）；垂直雙線（時間）；可獨立使用或在跟蹤方式下使用。
波形處理
波形函數：任選（Sinx/x或線性內插法，平均或包絡
的波形函數（選件）：FFT、微分、積分
算術運算：加、減、乘、反相
自動設置：單鍵完成，根據選定信號自動設置垂直、水平和觸發統
自動極限測試：將輸入波形與參考波形的上、下限比較
計算接口
GPIB（IEEE-488.2）可程控能力：
全聽/講功能：有模式、狀態和測量均可控制。
存貯
波形：4個5000點之記錄，共50000點。
狀態：十個前面板狀態
物理特性
尺寸：236mm(高)×445mm(寬) ×432mm長
重量：12.3公斤
二現貨現貨租售：TDS3032B TDS3034B TDS3052B TDS3054B TDS5014B TDS7104 TDS7254 TDS6604 HP54622D HP54835A DOS5034A DOS3034A等多型號多
希望廣大需求顧客，打電話，電議
每天在工作時都在線建議
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感謝支持本的工作，祝您愉快。
，提供示波器，網絡分析儀，頻譜分析儀，
信號發生器修、綜合測試儀維修等射頻檢測分析類儀器銷售、租貸、維修、收購等服務。
服務宗旨：以客戶為中心、以技術為基礎、以服務為紐帶
