IC卡動(dòng)態(tài)彎曲扭轉(zhuǎn)測(cè)試儀主要用于測(cè)試IC卡的彎曲、扭矩試驗(yàn)，符合國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測(cè)中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測(cè)部門、實(shí)驗(yàn)室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測(cè)試和分板研究，深受廣大用戶青睞。

詳細(xì)介紹

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一、IC卡動(dòng)態(tài)彎曲扭轉(zhuǎn)測(cè)試儀主要用途：

該IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)主要用于測(cè)試IC卡的彎曲、扭矩試驗(yàn)，符合國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

優(yōu)鴻公司專業(yè)生產(chǎn)、研發(fā)和銷售物理力學(xué)性能試驗(yàn)設(shè)備，公司生產(chǎn)的力學(xué)試驗(yàn)機(jī)系列產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于各種行業(yè)做理化檢測(cè)之用。是專業(yè)研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造的生產(chǎn)廠家。主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測(cè)中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測(cè)部門、實(shí)驗(yàn)室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測(cè)試和分板研究，深受廣大用戶青睞。
二、技術(shù)參數(shù)：
  1.測(cè)試速度：彎曲扭曲30r/min及0.5Hz
  2.測(cè)試周期：1~9999次
  3.扭曲度：±15°±1° 雙向d=86 mm
  4.正反向各15°，總扭曲角度30°
5.長(zhǎng)邊zui大位移量為20mm（+0.00mm,-1 mm）
6.長(zhǎng)邊zui小位移量為2mm±0.50mm，
7.短邊zui大位移量為10mm（+0.00mm,-1 mm）
8.長(zhǎng)邊zui小位移量為1mm±0.50mm，
9.夾具安裝尺寸*按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
10.外形尺寸：670×380×220mm
11.儀器重量：約70kg

詳情請(qǐng)咨詢優(yōu)鴻測(cè)控技術(shù)（上海）有限公司，：，楊

關(guān)鍵詞：扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)機(jī)