18019425599
當前位置：上海納優儀器儀表有限公司>> NY-407CRDR低對比度細節檢測模體
NY-407CRDR低對比度細節檢測模體
產品簡介
用于拍片、數字X射線成像系統和透視系統檢測?？梢詸z測光野/射野一致性、空間分辨力、低對比度分辨力、動態范圍和圖像一致性等項目。
主要技術參數：
1、模體功能外形尺寸300x300x18.5mm
2、基板厚度1.5mm，300x300mm
3、空間分辨力0.6-5.0Lp/mm，0.1mmPb
4、低對比度分辨力12個內徑10mm圓孔，范圍0.5-7.6%，精度0.01mm動態范圍17個銅階，范圍1/16-16精度0.01mm影像均勻性15x15mm正方形采樣區13個，精度0.005mm
5、確定輻射野大小和位置的標記
主要技術參數：
1、模體功能外形尺寸300x300x18.5mm
2、基板厚度1.5mm，300x300mm
3、空間分辨力0.6-5.0Lp/mm，0.1mmPb
4、低對比度分辨力12個內徑10mm圓孔，范圍0.5-7.6%，精度0.01mm動態范圍17個銅階，范圍1/16-16精度0.01mm影像均勻性15x15mm正方形采樣區13個，精度0.005mm
5、確定輻射野大小和位置的標記
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，環保在線對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
環保在線