X 射線熒光測量系統，國產涂層測厚儀，用于在生產過程中對薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進行連續在線測量和分析
特點
- 法蘭測量頭，安徽涂層測厚儀，用于在生產線中進行連續測量
- X射線探測器可以為比例計數管，數字涂層測厚儀，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
- 在生產過程中直接用典型產品進行快速簡單校
- 可在真空或大氣中使用
- 可以在 500° C 的高溫基材上進行測量
- 堅固和耐用是設計的重心
典型應用領域
- 光伏技術（CIGS，牛津涂層測厚儀，CIS，涂層測厚儀廠家，CdTe）
- 分析對金屬帶、金屬薄膜和塑料薄膜上的鍍層
- 連續生產線
- 噴射和電鍍生產線監測
- 測量大面積樣品
