X射線熒光測試儀，深圳涂層測厚儀，可在微小樣品上，薄膜涂層測厚儀，手動或全自動測量印刷線路板、電子元件和大規模生產零部件上的鍍層厚度。包括鎳層測厚、化鎳厚度等。
XDLM鍍層厚度測量儀特點
- 通用性極廣，激光涂層測厚儀，因為配備了微聚焦管、4個可切換準直器和 3 個基本濾片
- 適用于微小結構，兩用涂層測厚儀，如接插件或線路板
- 還適用于遠距離測量（DCM方法，高精度涂層測厚儀，范圍0-80 mm）
- 底部C型開槽的大容量測量艙
- 可編程的臺式設備，玻璃鋼涂層測厚儀，用于自動測量
XDLM鍍層厚度測量儀典型應用領域
- 測量印刷線路板工業中，涂層測厚儀品牌，薄金、鈀和鎳鍍層。鎳層測厚、化鎳厚度
- 測量接插件鍍層和觸點鍍層。
- 在電子和半導體行業中測量功能性鍍層。
- 黃金、珠寶和鐘表工業。
