當(dāng)前位置：福州精科儀器儀表有限公司>>特色表征儀器>>Dimension FastScan 原子力顯微鏡

Dimension FastScan 原子力顯微鏡

返回列表頁(yè)

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商

所在地

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：林英查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2021-07-16 15:02:08瀏覽次數(shù)：330次

聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類(lèi) 品牌分類(lèi)

  特色表征儀器

全部產(chǎn)品列表

暫無(wú)信息

福州精科儀器儀表有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：經(jīng)銷(xiāo)商

商鋪產(chǎn)品：283條

所在地區(qū)：福建福州市

聯(lián)系人：林英（經(jīng)理）

詢價(jià) 給他留言

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

?分辨率成像—無(wú)論何時(shí)，不論哪次?高帶寬，從而快速掃描，觀察實(shí)時(shí)變化?潛力無(wú)限—極其靈活的開(kāi)放式架構(gòu)?獲得面的納米尺度的定量特性參數(shù)?超乎想象的簡(jiǎn)單分辨率成像—無(wú)論何時(shí)，不論哪次FastScan和PeakForceTapping®實(shí)現(xiàn)了力的實(shí)時(shí)測(cè)量與線性控制

詳細(xì)介紹

? 分辨率成像—無(wú)論何時(shí)，不論哪次

? 高帶寬，從而快速掃描，觀察實(shí)時(shí)變化

? 潛力無(wú)限—極其靈活的開(kāi)放式架構(gòu)

? 獲得面的納米尺度的定量特性參數(shù)

? 超乎想象的簡(jiǎn)單

分辨率成像— 無(wú)論何時(shí)，不論哪次

FastScan 和 PeakForce Tapping® 實(shí)現(xiàn)了力的實(shí)時(shí)測(cè)量與線性控制。

輕易分辨 DNA小溝結(jié)構(gòu)。

點(diǎn)缺陷 的高分辨三維尺寸和機(jī)械性能成像— 不只是堅(jiān)硬的、平坦的晶體。

在樣品上每個(gè)原子實(shí)現(xiàn) 力掃描。

To maximize lateral resolution, stay close but not too close. PeakForce Tapping uniquely allows you to do this. See Physical Review B 56(7), 4159, 1992 LINK , and Chemical Review 88, 927 (1988) LINK for the detailed modeling of the tip-sample interaction.

推動(dòng) 石墨烯、鈣鈦礦等二維材料的研究。

PeakForce QNM® modulus images of graphene on hexagonal boron nitride, revealing a transition to a commensurate lattice upon alignment with highly localized strain relief. See also Nature Physics 10, 451–456 (2014). LINK

高帶寬，從而快速掃描，觀察實(shí)時(shí)變化

記錄高速的納米尺度動(dòng)力學(xué)現(xiàn)象。

測(cè)量具有挑戰(zhàn)性的形貌。

同時(shí)具備速度和穩(wěn)定性。

的原子力顯微鏡 —與樣品尺寸無(wú)關(guān)。

Increase scan speed on even the high-resolution Icon head with Fast Tapping.

潛力無(wú)限—極其靈活的開(kāi)放式架構(gòu)

全面的環(huán)境控制方案，用于電池、有機(jī)太陽(yáng)能等領(lǐng)域。

首先使用已有的測(cè)量模式;如果沒(méi)有，創(chuàng)造一個(gè)。

直接控制軟件和硬件，選擇一個(gè)最容易的方法：串行通訊端口，信號(hào)測(cè)試盒，Nanoman/Litho和力腳本等。

在開(kāi)放的平臺(tái)上直接進(jìn)行改造，與其它技術(shù)聯(lián)用。

獲得面的納米尺度的定量特性參數(shù)

重新定位您的期望。

Nanoscale viscoelastic characterization with high confidence.

常規(guī)地獲得高質(zhì)量力學(xué)性能數(shù)據(jù)。

在之前不可能研究的樣品上研究電學(xué)性能。

獲取整體力學(xué)數(shù)據(jù)，從而全面表征接觸力學(xué)機(jī)制。

實(shí)時(shí)研究原子化學(xué)信息。

超乎想象的簡(jiǎn)單

專注于您的研究。

硬件，軟件和控制算法，讓您立即成為專家。

NanoScope®被認(rèn)可的，被引用最多的原子力顯微鏡。

的儀器檢測(cè)性能

? 在空氣或液體中成像速度是原來(lái)速度的100倍，自動(dòng)激光調(diào)節(jié)和檢測(cè)器調(diào)節(jié)，智能進(jìn)針，大大縮短了實(shí)驗(yàn)時(shí)間。

? 自動(dòng)測(cè)量軟件和高速掃描系統(tǒng)結(jié)合，大幅提高了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可信度和可重復(fù)性。

的測(cè)量分辨率

? Fastscan精確的力控制模式提高了圖像分辨率的同時(shí)，延長(zhǎng)了探針的使用壽命。

? 掃描速度20Hz時(shí)仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。

? 低噪音，溫度補(bǔ)償傳感器展現(xiàn)出亞埃級(jí)的噪音水平。

全面的測(cè)試功能，適用于各類(lèi)AFM樣品

? 閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描器極大的降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有超低的熱漂移率，可得到超高分辨的真實(shí)圖像。

? Fast Scan可以對(duì)不同樣品進(jìn)行測(cè)量，保證掃描過(guò)程中從埃級(jí)到0.1μm的高精度無(wú)失真掃描。

不論您選擇Icon掃描器獲得超低噪音和超高分辨率的圖像，還是選擇Dimension FastScan AFM的掃描器進(jìn)行高速掃描檢測(cè)，Dimension FastScan AFM系統(tǒng)都會(huì)幫助您將儀器的功能開(kāi)發(fā)到，實(shí)現(xiàn)其它單一模式的儀器所達(dá)不到的效果。

關(guān)鍵詞：顯微鏡電池傳感器

其他推薦產(chǎn)品更多>>