Ci52多功能分光光度儀

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更新時間：2024-03-28 15:50:18瀏覽次數：140次

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產品簡介

Ci52質量控制儀器X-RiteCiTM52多功能分光光度儀分光光度儀可測定不同材料、尺寸、形狀、紋理、及透明度不同的樣品，并保證測量結果的一致性

詳細介紹

Ci52

質量控制儀器

X-Rite Ci^TM 52

多功能分光光度儀

分光光度儀可測定不同材料、尺寸、形狀、紋理、及透明度不同的樣品，并保證測量結果的一致性。同時測定顏色和外觀可增加準確度。本裝置使用時可采用懸掛手柄形式，或組裝成小型臺式儀器。啟用Netprofiler3系統可確保穩定、精確的性能。

X-Rite Ci52的優點

功能完備 - 可提供手柄式或臺式操作模式；配置遠程端口控制測量選項使用更方便。

操作便捷 - 可視（LED）指示器和音頻狀態指示器，隨時提示操作情況。

測量方法更完備 - 借助下調后翻式定位板和遠程端口控制測量，可輕松測定處理難度高的樣品。

可測定的樣品種類和尺寸更廣 - 大于等于14毫米的紙張、塑料、織物；各種堅硬表面。

讀數迅速、準確 - 標準平整樣品以及形狀復雜樣品的測定時間均為2秒。

性能可靠 - 全面的測定方式——可測包含鏡面反射（顏色）以及排除鏡面反射（外觀），以確定鏡面因素的影響。

測定結果一致 - 杰出的兼容性，確保各種儀器組合的顏色控制具有的一致性。

啟用NetProfiler^®3 - 機載系統優化儀器性能，還可實現遠程認證。

無縫銜接 - 與現有愛色麗分光光度儀操作方式相同。

X-Rite Ci52 規格

測量光學系統	d/8°, DRS光譜感應器同時測量SPIN/SPEX
光學測量孔徑	8毫米測量區域 14毫米測量目標窗
光源	充氣鎢絲燈
接收器	硅光電二極管(藍光增強)
光譜范圍	400-700nm
光譜波長間距	10nm - 測量 10nm - 輸出
測量范圍	0-200%反射率
測量時間	約2秒
儀器間協議	CIE Lab; 平均0.20ΔEab, 測量12塊BCRA II系列色板平均值(包含鏡面反射); 0.40ΔE*ab, 測量任何色板(包含鏡面反射)
短斯重復性	0.05ΔE*ab, 測量白色標準板
NetProfiler支持	嵌入式
Transform支持	嵌入式
燈泡壽命	約500,000次測量
電源	電源適配器要求 90-130VAC或100-240VAC, 50-60Hz, 15W max
數據界面	USB
操作溫度范圍	50°至104°F(10°至40°C) 相對濕度:85%(無結露)
儲存溫度范圍	-4°至122°F(-20°至50°C)
重量	1.9磅(0.87千克)
體積	4.3″高(10.9厘米)×3.6″寬(9.1厘米)×8.4″長(21.3厘米)
標準附件	校正標準：黑校正標準、可移動白色和綠色標準板；使用說明書、交流電適配器，USB數據線
可選配件	可選臺式站立式樣品固定夾具