密封墊是氣相色譜誤差的主要來源之一。在進行痕量分析時,密封墊所引起的問題更加突出。盡管采用閥進樣可以避免密封墊問題,但當無法使用進樣閥時,本文所采用的方法可以減小降解/泄漏。　　盡管氣相色譜（GC）已經發展了三十多年，但采用硅橡膠來密封熱的加壓進樣系統的方法仍在使用。盡管簡單的方法通常有效，但因為GC的就是，因此必須對該應用進行重新考察。隨著痕量分析需求的日益增加，問題也愈加明顯。　　1 　　（見圖1）通常由純聚二甲基硅烷重度交聯而成，有時也添加了穩定劑（如鄰苯二甲酸鹽等）。目前有不同種類的，都具有易穿透、低污染、長壽命的特點。問題是由于長期處于高溫條件，很容易發生泄漏，降解現象很嚴重，會降解成D3（一個環中有3個硅氧烷單元），甚至繼續降解到D10-D12等一系列環狀物質。有時取下，會發現里面有一層油狀物，這些物質即為的D4至D12降解產物。　　2 吹掃　　針對上述問題，儀器制造商發展了吹掃技術。即用低流速（通常為4~6 mL/min）的載氣通過，以洗去泄漏物（該方法能去除大多數的泄漏物，但不能*清除）。在進行痕量分析時，泄漏物質產生的鬼峰會對分析造成干擾（如圖2所示）。尤其在不分流進樣模式下，鬼峰將作為雜質峰出現。我們可以在實驗室里進行下面的小測驗。控制柱溫在30℃保持15min，做空白實驗（不進樣，只進行程序升溫至300℃），并觀察基線;此次運行后，將柱溫再次冷卻至30℃，并保持該溫度60min。重復上述過程。結果發現，鬼峰隨升溫時間線性增加,這說明進樣系統被污染。　　如果通過在0~20min 模擬不分流模式下不同的進樣時間，實驗結果更明顯（見圖3）。在不分流的時間里（即分流關閉的時間），進樣系統中的所有雜質都進入柱子并被捕集。運行程序分析可以更清楚地判斷系統的清潔度。　　3 顆粒　　除泄漏外，更大的問題是顆粒有時會沉積在襯墊中。當所使用的已經產生泄漏時（如使用時間過長或使用過尖的針頭等），其顆粒將保留在內襯管中（見圖4）。由于內襯管的溫度較高， 通常為250~300℃，顆粒將逐漸降解成泄漏物而直接進入柱子并被捕集，zui終作為泄漏物或鬼峰被檢測。　　上述過程將持續到顆粒被清除或*降解。人們通常認為固定相是泄漏產物的主要原因。但需要注意的是，一個典型的毛細管柱只有幾毫克的聚二甲基硅烷（例如VF-5ms[VarianBV ，Middelburg ，TheNetherlands]），來自的一個顆粒就足以占有整根柱子固定相總量的50%。可見，顆粒產生的泄漏問題影響很大。　　4 泄漏為什么會成為一個問題?　　的降解產物與固定相的降解產物十分相似（如圖5）。很多時候，當觀察到泄露，尤其是采用質譜檢測到m/z為207和281的兩個離子峰，人們都認為是柱子的問題。然而，在絕大多數情況下，是泄漏物從柱子中洗脫出來。新一代的低泄漏柱，如FactorFourTM（VarianBV），幾乎不存在泄漏問題。引起泄漏的其他原因將成為主要因素，并亟待減小或消除。　　5 泄漏zui小化　　可以通過下面的措施減小降解或泄漏所帶來的影響。　　（1）用進樣閥代替。如果有條件的話，閥或進樣環可以安裝在分流器前，與帽相連，可以確保系統清潔。　　（2）使用Merlin MicroSeal。制造商可以給很多氣相色譜儀提供這種裝置。該裝置十分有效，但在進樣口和自動進樣器對接時要特別小心，因為很小的偏差就會導致失敗。這種方法也不存在問題。　　（3）盡量減少易刺穿的錐形針頭的使用。采用已被刺穿的（BTO[Varian BV]提供），就可以很好地解決該問題。被刺穿的中間有一個小洞，在確保密封性能的同時，針頭很容易進出。　　（4）及時清潔和更換內襯管或襯墊。玻璃纖維或整個內襯管都可以被更換;內襯墊可以用超聲水浴清洗或直接丟掉。　　（5）按時更換，不要等到它開始泄漏時再換。泄漏的不僅產生顆粒，而且會引起偏差，使外界空氣進入系統。一旦空氣（氧氣和水）進入氣相色譜系統，隨之產生的氧化及水解反應將導致色譜分離效率下降，表現出偏移增加（更多的泄漏）、峰拖尾、峰展寬及峰值減小，甚至引起保留時間發生變化。通過數字氦檢漏儀，可以對的使用壽命進行檢測。從而及時發現潛在的泄漏問題。在達到估計次數的75%時，應該更換或做汽化管的相應維護。