KY-99C靜態(tài)顯微顆粒圖像儀

產(chǎn)品簡介：
KY-99C是凱云儀推出的第三代靜態(tài)顆粒圖像分析儀通過新一代高清數(shù)字攝像系統(tǒng)，可將顆粒形貌直觀的反映在電腦屏幕上。使測試人員首先對顆粒的總體狀態(tài)有一個直觀了解，進而通過自主開發(fā)的軟件系統(tǒng)，獲得常規(guī)粒度分布數(shù)據(jù)的同時還可以得到球形度、長徑比等形貌表征數(shù)據(jù)。這是其他種類的顆粒測試儀器所達不到的，對于某些行業(yè)具有重要意義。

詳細介紹

KY-99C靜態(tài)顯微顆粒圖像儀

產(chǎn)品簡介：
KY-99C是凱云儀推出的第三代靜態(tài)顆粒圖像分析儀通過新一代高清數(shù)字攝像系統(tǒng)，可將顆粒形貌直觀的反映在電腦屏幕上。使測試人員首先對顆粒的總體狀態(tài)有一個直觀了解，進而通過自主開發(fā)的軟件系統(tǒng)，獲得常規(guī)粒度分布數(shù)據(jù)的同時還可以得到球形度、長徑比等形貌表征數(shù)據(jù)。這是其他種類的顆粒測試儀器所達不到的，對于某些行業(yè)具有重要意義。
KY-99C既可以獨立完成簡單的粒度測試任務，也可以作為激光粒度儀的輔助和補充，對樣品進行更全面更多樣的分析，是顆粒測試工作中*的得力助手。

適用范圍：
KY-99C靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、*、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。

產(chǎn)品優(yōu)勢：
“KY-99C顆粒圖像儀”作為專業(yè)的顆粒圖像分析儀器，是專為顆粒或顆粒相關行業(yè)設計開發(fā)的，它的突出優(yōu)勢主要體現(xiàn)在以下方面：

專業(yè)性強：與其他廠家生產(chǎn)的各種類型圖像分析儀器相比，凱云儀專業(yè)的顆粒測試研究經(jīng)驗與圖像學理論*結合，是“KY-99C顆粒圖像儀”專業(yè)性的保證。本產(chǎn)品不但可對樣品的顆粒單體的進行科學描述，還可以將顆粒的分布情況使用數(shù)據(jù)、圖表等方式進行直觀表現(xiàn)。能夠獨立或輔助激光粒度儀等設備更好的進行顆粒測試工作。

數(shù)據(jù)直觀、易懂，分析結果一目了然：常見的顆粒測試儀器有激光粒度儀、沉降粒度儀等，但在進行顆粒檢測的同時還可觀測樣品形貌的直觀性優(yōu)勢是其他所有顆粒測試設備所不具備的，這能夠使用戶更全面的了解顆粒的形貌、狀態(tài)、變化過程等信息。并且，對照直觀的樣品圖片，可以幫助用戶更好的理解報告中的數(shù)據(jù)含義。

應用廣泛，價格低廉：“KY-99C顆粒圖像儀”既可以作為一種觀測儀器，替代傳統(tǒng)顯微鏡進行各種樣品的觀測工作，又可以計算樣品的各項數(shù)據(jù)，操作直觀簡便，應用范圍十分廣泛。且產(chǎn)品價格低廉，適用于不同行業(yè)不同規(guī)模的企業(yè)用戶。

KY-99C顯微顆粒圖像分析儀技術參數(shù)及詳細配置

硬件參數(shù)
顯微系統(tǒng)	物鏡	4X、10X、40X、60X、100X（油）長距消色差（平場）物鏡組
	目鏡	1X、10X、16X 大視野攝像目鏡
	載物臺	手動三維機械式載物臺，尺寸：185mm×140mm，移動范圍：50mm×75mm，粗微同軸調焦，微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置
	光源	底部透射光源，6V 20W鹵素燈,亮度可調。可選頂部金相落射式光源（帶起偏振器）

光源	底部透射光源，6V 20W鹵素燈,亮度可調。可選頂部金相落射式光源（帶起偏振器）
總放大倍數(shù)	4倍——1600倍
攝像系統(tǒng)		zui高分辨率	2048×1536
		像素尺寸	3.2μm×3.2μm
		成像元件	1/1.8英寸 progress scan CMOS
		幀率	6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480
		zui高清晰度	900線
		信噪比	小于42dB
		敏感度	1.0V@550nm/lux/S
		輸出方式	USB2.0
		實際觀測范圍	1微米——6000微米
軟件參數(shù)
軟件功能	靜態(tài)采集			將樣品形貌拍攝為高清晰BMP圖片
	圖片處理			使用多種畫圖工具對圖片進行比較簡單的處理
	圖像拼接			將多幅圖片進行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性
	顆粒的自動處理工具集			自動消除顆粒粘連、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動*顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。
	比例尺標定			通過國家標準測微尺標定后，每次測試只須選擇與物鏡相對應的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實際大小數(shù)值。
	單個顆粒數(shù)據(jù)			可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、體積、長徑比等10多項參數(shù)的分析
	任務管理機制			嚴格的任務管理機制，使用戶能夠將所有測試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。
	報告輸出			將測試結果輸出為報告，并可以自定義報告樣式。
	整體分布特征參數(shù)			D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)
報告參數(shù)	整體頻率分布累計分布			顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。
	統(tǒng)計平均徑			Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑
	形狀參數(shù)			長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項常用數(shù)據(jù)
	個數(shù)統(tǒng)計			直接得到所觀測的顆粒數(shù)量
	樣品縮略圖			可以將樣品縮略圖顯示到報告中
	表頭輸入			可以將樣品名稱、測試單位、分散介質等多項信息輸入到報告表頭中
	自定義LOGO			用戶可以自定義LOGO和報告名稱，使輸出的報告顯示自己公司的信息