GT2JL-9200（9000、9100）、GT2SKL-07型激光粒度分析儀

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更新時間：2022-08-03 13:42:16瀏覽次數(shù)：519次

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產(chǎn)品簡介

GT2JL-9200(9000、9100)、GT2SKL-07型激光粒度分析儀是通過測量顆粒群的衍射(散射)譜經(jīng)計算機進行處理來分析其顆粒分布的。可用來測量各種固態(tài)顆粒、測量霧滴，氣泡及任何二相懸浮顆粒狀物質(zhì)的粒度分布，測量運動顆粒群的粒度分布。它不受顆粒的物理、化學(xué)性質(zhì)的限制。有超聲、循環(huán)的樣品分散系統(tǒng)，測量范圍廣，自動化程度高，操作方便，測試速度快，測量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠、重復(fù)性好。

詳細介紹

GT2JL-9200（9000、9100）、GT2SKL-07型激光粒度分析儀

主要技術(shù)指標(biāo)
準(zhǔn) 確度：體積（重量）不確定范圍達到GBW（E120009C）標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)用于一般儀器鑒定規(guī)程的要求
測量速度：單次光學(xué)采樣20微秒并行,處理時間少于1分鐘
測量方式：靜態(tài)、液態(tài)、液態(tài)循環(huán)
結(jié)果輸出：打印，各級顆粒體積（重量）與顆粒數(shù)的直方圖、百分比、累計百分比、D10粒徑、D50粒徑、D90粒徑、峰值粒徑、個數(shù)平均粒徑、重量平均粒徑、面積平均粒徑、比表面積、擬合精度

型號分?jǐn)?shù)級濃度要求測量范圍特點
GT2JL-9100型 32級 0.002%--0.2% 0.1-111.6um 激光衍射法

GT2JL-9000型 32級 0.02%--1% 0.1-334.7um 適合（D50>1.um）

GT2JL-9200型 32級 0.02%--1% 0.1-334.7μm 具有自動制樣裝置

GT2SKL-06型 32級 0.002%-0.2% 0.1-111.6 半導(dǎo)體激光器適合教學(xué)使用

GT2SKL-07型 36級 0.002%-0.2% 0.1-334.7um 米氏散射理論,多量程顆粒測量

關(guān)鍵詞：激光粒度分析儀