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上海析譜752N/752紫外可見分光光度計

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更新時間：2022-07-07 15:40:49瀏覽次數(shù)：979次

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產品簡介

上海析譜752N/752紫外可見分光光度計能夠進行定量測量，光譜掃描(可以對某一種物質進行全波段掃描,分析物質的特征波長,判斷實驗過程的誤差)

詳細介紹

上海析譜752N/752紫外可見分光光度計產品介紹:
主要特點:
現(xiàn)代化智能型光度計,有著開機自檢、自校波長、光源自動切換與定位、調零調100及波長改變都是全自動,濃度測試,回歸方程全都可以實現(xiàn)。
“ 上海析譜"研發(fā)生產的752系列紫外可見分光光度計采用了高精度正弦機構作為單色傳動裝置,程序控制,波長精度和全波長的線性度明顯優(yōu)于使用齒輪齒條作為傳動機構和用刻度盤作為波長讀數(shù)的同類產品！
1. 寬大的樣品室,可容納5—100mm各種規(guī)格的比色皿；
2. 設計*的光學系統(tǒng)、高性能全息光柵和接收器確保儀器具有優(yōu)良的性能指標；
3. 采用單機操作,線性回歸方程測量等；
4. 應用的微機處理技術使操作更為方便
5.波長,調零全自動,波長間隔0.1nm
詳細參數(shù):上海析譜752N/752紫外可見分光光度計技術指標

產品型號	752N	752
光學系統(tǒng)	CT式光路結構（1200毫米衍射光柵）自動紫外可見分光光度計
狹縫帶寬	3.8nm單機操作
波長范圍	190—1100 nm
波長分辨率	0.1 nm 光學焦距200mm
數(shù)據(jù)顯示	液晶顯示（PC選配 UV win10 PC端）
波長精度	波長驅動0.1nm 自動，±0.1nm（@656.1nmD2,±0.3nm(全波長范圍)）實測±0.3nm
	±1nm		±2nm
波長重復性	≤0.2nm
雜散光	≤0.05%T(220nm Nal;360nm NaNO2)			≤0.1%T(220nm Nal;360nm NaNO2)
光度范圍	0-200%T，-0.301-4.0A，0-9999C
光度精度	±0.002A(0-0.5A), ±0.5%T(0-100%T)
光度重復性	±0.001A(0-0.5A), ±0.15%T(0-100%T)
尺寸	440340220mm
重量	14Kg
電源	AC 90-240V 100W