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下照式鍍層測厚儀采用的是種XRF光譜分析技術，X光管產生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產生特征X射線。
下照式鍍層測厚儀是企業(yè)在整個采購中比較關心的個部分，買到性價比的產品及省了采購成本又解決了企業(yè)問題。天瑞儀器92年開始做鍍層測厚儀，是內早生產X熒光測厚儀的廠家，天瑞Thick600主要應用在膜厚檢測，在電子電器領域應用廣泛。
鍍層厚度測試方法般有以下幾種方法：
1 光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005
2 X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005
3 庫侖法，此法般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005
下照式鍍層測厚儀應用范圍
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定，RoHS檢測
彈簧、電子連接器、電子電器、螺栓和螺母、衛(wèi)浴、五金端子、螺絲、半導體封裝材料等產品ROHS及鍍層厚度測量。
儀器分析原理
儀器采用的是種XRF光譜分析技術，X光管產生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。
性能特點
Thick600采用下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求；準直器和濾光片手動切換：不同樣品材質用不同的準直器；移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點；高分辨率探測器：提高分析的性；新代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定，測試效率高。
儀器軟件:
分析軟件簡介
功能介紹：快速地檢測金屬電鍍層的厚度
2 軟件界面簡潔，操作方便，無需專業(yè)人士操作
2 軟件帶有標樣校對功能，可以采用單標樣和多標樣，對無標樣的測試結果進行校對，使得測試結果更接近實際值
2 無標樣分析方法(FP法），測試不受標準樣品的限制
2 具有自動定性分析功能，自動元素識別功能，方便對樣品元素的識別和定性
2 具有疊加虛譜功能，方便作樣品的定性對比分析
儀器故障的處理
儀器出現(xiàn)故障是難免的，遇到小的故障，用戶能解決就盡量自己解決，不能解決的，請記下故障的現(xiàn)象，速與廠家聯(lián)系，廠家負責維修。維修時，如果是拔插任意連接線，都要關計算機、顯示器、打印機、熒光分析儀主機、高壓電源等的電源，絕不可以帶電操作。下面將些常見故障以及處理方法介紹如下：
A計算機電源開著，屏幕上不出任何東西。
檢查順序：
1.顯示器是否開著？請開。
顯示器與計算機的連接是否連接好？可以肯定計算機主機沒有的故障，檢查鍵
盤、驅動器等是否接好。請連接好。
2.繼續(xù)操作計算機，是否看見驅動器燈亮或蜂鳴器聲響，若聽見聲響或見燈亮，說明計算機主機沒有問題，可能是顯示器或顯示卡出現(xiàn)了故障，般在當?shù)赜嬎銠C公司可以修理。
①如果不見驅動器燈亮或蜂鳴器聲響，則聽聽計算機主機內的風扇是否有聲，若無聲，則打開計算機機箱，檢查各插板是否接好；并除去光譜儀和計算機連接線，再開計算機電源檢查計算機是否工作正常。
②若仍不正常，則計算機主板出了故障，可找當?shù)氐挠嬎銠C公司更換主板。
B進到了X熒光分析軟件中，但測試時不走時間。
檢查順序：
1.可能是光譜儀與計算機主機的連接不好。
2.請用螺絲刀固緊其連接線。
3.可能是軟件測量時間設置為零了。
① 進到了熒光分析軟件中，但譜線與正常的譜線有嚴重的差別。
請先檢查計數(shù)率是否在正常范圍內，如果在則確認bios里面的并口模式是否正常，如果以上情況都正常，但仍然得不到正常的譜線，可以通知廠家。
② 測試過程中經常死機、時間不走、不出譜線等。
檢查順序：
1.是否沒調出工作曲線。
2.估計電源不穩(wěn)或有電瞬間沖擊，請配交流凈化穩(wěn)壓電源。
3.室溫是否過高？是否周圍震動厲害。
4.是否有電廠、大電機、電焊等的干擾。
5.更換計算機的主機板。
環(huán)保在線