鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節，是產品達到優等質量標準的必要手段。鍍層測厚儀廣泛地應用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護的專業儀器。
原理：
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
鍍層測厚儀在使用過程中需要注意哪幾個方面：
1、對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似;對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
2、檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度。
3、不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
4、不應在試件的彎曲表面上測量。
5、通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。
6、測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。
