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廣州文明機電有限公司
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JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。 利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
產品規格
FIB
| 檢測元素范圍 | Mg～U |
|---|---|
| F～U（選配） | |
| X射線發生裝置 | 5～50 kV , 1mA |
| 靶材 | Rh |
| 一次濾波器 最多9種 自動交換 | 標準：OPEN, ND, Cr, Pb, Cd |
| 選配：Cl, Cu, Mo, Sb | |
| 準直器3種 自動交換 | 0.9mm, 2mm, 9mm |
| 檢測器 | 硅漂移檢測器（SDD） |
| 樣品室尺寸 | 300mmφ×80mmH |
| 樣品室氣氛 | 大氣 / 真空(選配） |
| 樣品室觀察機構 | 彩色攝像機 |
| 操作用電腦 | Windows ® 觸控屏 臺式電腦 |
| 分析軟件（標準） | 定性分析（自動定性、KLM標記、和峰顯示、譜圖檢索） 定量分析（塊狀FP法、檢量線法） RoHS分析解決方案（Cd, Pb,Cr, Br, Hg) 簡易分析解決方案 報告制作軟件 |
| 分析軟件（選配） | 薄膜FP法分析軟件 關聯濾波器FP法分析軟件 |
| 日常檢查軟件（標準） | 管球升壓、能量校正、強度校正 |
Windows ® 為美國微軟公司在美國或其它國家的注冊商標或商標。
主要附件
樣品室真空排氣單元
多樣品自動交換單元
濾波器組
濾膜FP 法分析軟件
薄膜FP 法分析軟件
和峰消除軟件
鎳鍍層篩選解決方案
錫鍍層篩選解決方案
氯元素篩選解決方案
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