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安徽拓航儀器設備有限公司
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更新時間:2024-11-20 09:56:37瀏覽次數:60次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線一、產品介紹Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器
Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。
Zeta電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta>電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。納米粒度分布采用動態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進行布朗運動,較小顆粒的移動速度快于較大顆粒,在某個角度檢測記錄散射光強,散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度,利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。分子量測量采用靜態(tài)光散射(SLS)原理,散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量散射光強,繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。
Zeta電位測試
測試范圍 | -500mv ~ 500mv | 粒度范圍 | 1nm-9500nm(與樣品有關) |
樣品池容積 | 400μl | 測試原理 | ELS(電泳光散射) |
散射角 | 15 度 | 濃度 | 40% w/v |
相關器 | 1000通道線性相關器 | 電導率范圍 | 200 mS/cm |
粒度分布測試
粒度測試范圍 | 1-9500nm(與樣品有關) | 測試原理 | DLS( 動態(tài)光散射) |
重復性誤差 | ≤1%(國標樣D50 偏差) | 相關器 | 1000 個物理通道 |
準確性誤差 | ≤1%(國標樣D50 偏差) | 光源 | 固體激光器 |
樣品池容積 | 1ml / 4ml | 激光器波長 | 671nm |
樣品池溫控范圍 | 15℃—90℃ | 激光器功率 | 50mW |
溫控精度 | ±0.2℃ | 散射角 | 90 度 |
分子量測試
分子量范圍 | 1000Da—2x107Da | 準確性誤差 | ≤ 10% |
測試原理 | SLS(靜態(tài)光散射) | 重復性誤差 | ≤ 5% |
包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質、聚合物膠乳、藥物制備、水/ 油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應用等領域。
BT-Zeta100電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。
納米粒度分布測量采用動態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進行布朗運動,較小顆粒的移動速度快于較大顆粒,在某個角度檢測記錄散射光強,散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度,利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。
分子量測量采用靜態(tài)光散射(SLS)原理,散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量散射光強,繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。
穩(wěn)定的折疊光路系統(tǒng)
高速數據采集與轉換模塊
高精度樣品池定位組件
粒度測試準確性:用100nm 標準樣品測試,結果為101nm,誤差范圍為1%,遠遠小于國際標準ISO13321 允許誤差10% 的要求。
Zeta 電位測試準確性:用-55mv 標準樣品測試,結果為-59.7994mv,誤差范圍為8.7%,小于國際標準ISO13099 允許誤差10% 的要求。
分子量測試
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