環先生
雙85恒溫恒濕試驗箱設備說明:
該產品適用于電子元器件的安全性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制
設備型號:TS-50 500×400×350(長×寬×高)
溫度沖擊型:A型-20℃~+150℃ B型-30℃~+150℃C型-40℃~+150℃
D型-50℃~+150℃ E型-60℃~+150℃F型-70℃~+150℃
雙85恒溫恒濕試驗箱技術參數及詳細配置:
技術參數
沖擊方式:兩箱式或三箱式(用戶自選)
工作室溫度沖擊范圍:A型-20℃~+150℃ B型-30℃~+150℃C型-40℃~+150℃ D型-50℃~+150℃ E型-60℃~+150℃F型-70℃~+150℃
高溫室溫度范圍:60℃~150℃、 升溫時間≤45分鐘
低溫室溫度范圍:根據用戶選擇的型號,降溫時間≤45分鐘
溫度波動度:≤±0.5℃
高溫室溫度偏差:≤±2℃
低溫室溫度偏差:≤±2℃
溫度恢復時間鐘: ≤5分
工作室轉換時間:≤10秒
沖擊轉換方式:兩箱式為試件選擇環境轉換,三箱式為環境選擇試件轉換
高溫室尺寸:700×700×350(深×寬×高)單位mm(LCR-50A)
低溫室尺寸:700×700×350(深×寬×高)單位mm(LCR-50A)
滿足標準:
1.GB10589-89低溫試驗箱技術條件
2.GB11158-89高溫試驗箱技術條件
3.GB10592-89高低溫試驗箱技術條件
4.GB2423.1低溫試驗、試驗A
5.GB2423.2高溫試驗、試驗B
6.GB2423.22溫度變化試驗、試驗N
7.IEC68-2-14試驗N
8.Guo軍標GJB150.3-86
9.Guo軍標GJB150.4-86
10.GB2423.1-89電工電子產品基本試驗規程試驗A:低溫試驗方法
11.GB2423.2-89電工電子產品基本試驗規程試驗B:高溫試驗方法