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安柏來科學儀器(上海)有限公司
美國博曼(Bowman)BA-100 臺式X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析,以及電鍍液分析。智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便,在合理的價格范圍內顯著提升您的鍍層產品質量控制。
● *的預熱和ISO溫度適應程序
多毛細管聚焦光學結構
● 顯著提高X射線信號強度
● 獲得較準直器機型數倍乃至數十倍的信號強度
● 小于100um直徑的測量斑點
● 經過驗證,接近*的測量精度
應用領域:
常見的鍍層應用:
PCB行業
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引線框架
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
半導體行業
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
線材
Sn/Cu
珠寶、貴金屬
10,14,18Kt
元素分析、合金分類、雜質分析、溶液分析、電鍍液分析等
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