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北京卓立漢光儀器有限公司
發射光譜/光源光譜測量系統不僅可測量光源或其他發射光譜分布,而且可在此基礎上得到積分輻射通量、光通量、色坐標等。針對不同輻射光源的特性,可靈活選擇測試系統
ZLX-ES系列發射光譜/光源測量系統
發射光譜/光源測量系統介紹
發光體,如白熾燈、熒光燈、LED等輻射光譜及發光特性的測試,對研究其特性有很大幫助。系統不僅可測量光源或其他發射光譜分布,而且可在此基礎上得到積分輻射通量、光通量、色坐標等。
針對不同輻射光源的特性,可靈活選擇測試系統,如:寬帶光源和LED通常分辨率要求不高,可使用Omni-λ150系列單色儀系統;激光器、放電燈、等離子體、原子發射光譜等要求分辨率高,可使用Omni-λ300、Omni-λ500、Omni-λ750系列單色儀系統;寬波長范圍(UV~IR),建議采用雙出口單色儀接兩個探測器;測試寬光譜范圍的發光體,建議采用SD濾光片輪消多級光譜。
系統組成:分光系統+檢測系統+數據采集及處理系統+軟件系統+計算機系統
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