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SI-FZ斐索干涉儀

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產(chǎn)品型號(hào)SI-FZ

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更新時(shí)間：2024-04-12 08:17:18瀏覽次數(shù)：121次

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北京卓立漢光儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

斐索干涉儀原理為等厚干涉,單色光束在標(biāo)準(zhǔn)平面或標(biāo) 準(zhǔn)球面上,部分反射為參考光束;部分透射并通過被測件后反射回來的光束作為檢測光束。檢測光束自準(zhǔn)返回,與參考光束重合,形成等厚干涉條紋。斐索干涉儀是檢測光學(xué)元件面形、光學(xué)鏡頭波面像差以及光學(xué)材料均勻性等參數(shù)的一種精密儀器。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品概述

SI-FZ斐索干涉儀

斐索干涉儀原理為等厚干涉，單色光束在標(biāo)準(zhǔn)平面或標(biāo) 準(zhǔn)球面上，部分反射為參考光束；部分透射并通過被測件后反射回來的光束作為檢測光束。檢測光束自準(zhǔn)返回，與參考光束重合，形成等厚干涉條紋。斐索干涉儀是檢測光學(xué)元件面形、光學(xué)鏡頭波面像差以及光學(xué)材料均勻性等參數(shù)的一種精密儀器。

SI-FZ斐索干涉儀實(shí)驗(yàn)原理圖：