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惠州市天卓創智儀器設備有限公司
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科技快速進步，電子半導體的開發及應用，往往會應產品的需求而相對提高成品組合間的品質，如:阻抗、阻抗率。目前在半導體業間常需要此阻抗、阻抗率的數據來了解其相互之間問題。由于以傳統的方式來測量需要耗費人力、物力及大量時間去套入公式以求得結果,造成檢測中一大困擾，因此，日東精工分析科技便研發了更方便的測量儀器來解決，不用再計算繁瑣的公式了。符合了國際間的IS0 1853、ISO 2878、ASTM D9......
| 有效測量范圍 | X軸:300mm Y軸:300mm Z軸:50mm |
| 樣品厚度 | ≤40mm |
| 探頭垂直操作高度 | ≈50mm |
| 定位分辨率 | X軸、Y軸、Z軸:0.1mm |
| 重復定位精度 | X軸、Y軸:±0.08mm;z軸;Z軸:±0.1mm |
| 探針映射 | 4-pin 系列: Pin-to-pin 1.0mm,1.5mm,(間距 5mm) |
| 樣品測量基座 | 白色 PVC 片材或玻璃板 X、Y 軸帶 50mm 間距刻度 |
| 樣品傳送 | 手動(不兼容自動載體機等) |
| 接口 | USB 端口 |
| 電源 | 85 至 264 VAC(50/60Hz) 能量消耗:64 VA |
| 外形尺寸和重量 | 約543Wx492Dx410H(mm); 約22kg |
用途
1.生產工程
2.質量控制
3.研究與試驗發展
應用范圍
1.金屬、金屬薄膜
2.導電涂層、導電薄膜
3.片材
MCP-S330 的特點
可與Loresta GX 連接，測量范圍為10~(-4)-10~7 Ω;
全自動化:測量、算術、數據處理、3D 圖形輸出;
樣品尺寸:達 300 平方奎米(可連續測量多張樣品);
測量位置設置:除三種類型的測量位置組外，還可以從外部源導入坐標數據:柵格輸入、線輸入、順序輸入;
比較器功能:在屏幕上標注在范圍外的測量結果的測定點;
MCP-T370
MCP-T700
MCP-HT800
MCP-PD600
MCP-S330
MCP-PD51
MCP-T360
MCP-HT450
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