NIRECO株式會社ニレコX射線熒光分析儀X-50

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更新時間：2024-05-26 19:38:44瀏覽次數：201次

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產品簡介

X射線熒光分析儀X-50,X-200,X-500激光誘導擊穿光譜儀Z-900X射線熒光分析儀（XRF）不僅可以識別構成樣品的元素，還可以通過檢測用X射線照射樣品而產生的每種元素的熒光X射線來分析其成分比例

詳細介紹

X射線熒光分析儀X-50,X-200,X-500

激光誘導擊穿光譜儀Z-900

X射線熒光分析儀（XRF）不僅可以識別構成樣品的元素，還可以通過檢測用X射線照射樣品而產生的每種元素的熒光X射線來分析其成分比例。XRF原則上是一種非破壞性、非侵入性測量設備。

應用包括采礦領域采礦和試鉆過程中的礦物分析、工業領域材料等金屬和合金的識別和分選、RoHS和CPSIA等安全合規性測試以及利用手持功能的SDG領域。預計將應用于廣泛的領域，包括廢品工廠廢舊金屬的識別和分選、環境領域的土壤污染調查以及利用其非侵入性特性對藝術品和工藝品進行鑒定。

X-50系列是一款低價型號。可以利用XRF功能，并以與型號相同的用戶界面，而價格僅為旗艦型號的 50%。

品牌：NIRECO株式會社ニレコ

名稱：X射線熒光分析儀

型號：X-50

X射線管電壓和靶材	40kV Rh管或50kV Au管
探測器	7mm ² PIN 二極管探測器
工作環境溫度	-10°C 至 50°C（25% 占空比）
電源	可以使用鋰離子電池（可拆卸）和隨附的交流適配器進行操作
展示	3.5英寸彩色觸摸屏
數據傳輸	USB、WiFi、藍牙
樣本記錄	配備兩個攝像頭：照射窗攝像頭和全景攝像頭。
重量	1.4kg（含電池）