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電位計 EVK2-403 EMG德國原裝現貨

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更新時間:2024-08-15 10:38:52瀏覽次數:781次

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電位計 EVK2-403 EMG德國原裝現貨
光電探測器能把光信號轉換為電信號。根據器件對輻射響應的方式不同或者說器件工作的機理不同,光電探測器可分為兩大類:一類是光子探測器;另一類是熱探測器。

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控制單元(Control Unit)負責程序的流程管理。正如工廠的物流分配部門,控制單元是整個CPU的指揮控制中心,由指令寄存器IR(Instruction Register)、指令譯碼器ID(Instruction Decoder)和操作控制器OC(Operation Controller)三個部件組成,對協調整個電腦有序工作極為重要。

控制單元可以作為CPU的一部分,也可以安裝于CPU外部。
控制單元,英文Control Unit(CU),是CPU部件之一,有時也安裝于CPU外部。其基本功能是從內存取指令、分析指令和執行指令。

控制單元是實現一種或多種控制規律的控制儀表或控制部件。如:多路傳輸控制單元、代理設置控制單元。

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cpc對中系統 控制單元 SGC1000/AE1034 C003001 VEC000001德國 EMG 220AC 50MA 含操作面板 DCU 02

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CPC控制板小 SGC1000-2.1 P/N:CA003008,8/N:90693

CPC控制主板大 SGC1000-2.2.P/N:CA003005.SH:10773

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EMG線性光源發射器    LID2-800.32C 備件號:C019006

對中光源1075

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uS 675/11 Lchtband 品牌:EMG     CPC光源

CPC光源 LLS 675/11 Lichtband 品牌:EMG

EMG對中線性光源發射器:LID2-800.2C元件編號:C019005

EMG線性光源發射器LLS875/01

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線性光源發射器_EMG LLS 1075/01 24V DC/0, 7A

EMG高頻光源發射器LIC1075/11

光源/L1C770/01-24VDC/3.0A

無論哪一個種類的控制單元,原理均為通過控制單元發出的控制信號對CPU各個部分加以控制。控制單元大體可以分為以下兩類。

  • 微程序式,由微程序讀取和發出控制信號。通過被稱為微型定序器的簡單數字通路(微型電腦)對微程序加以執行。 [1]
  • 硬件型控制單元。由數字通路直接發出控制信號。由于集成電路的規模化及設計技術的進步,此種控制單元已成為可能。
  • 它根據用戶預先編好的程序,依次從存儲器中取出各條指令,放在指令寄存器IR中,通過指令譯碼(分析)確定應該進行什么操作,然后通過操作控制器OC,按確定的時序,向相應的部件發出微操作控制信號。操作控制器OC中主要包括節拍脈沖發生器、控制矩陣、時鐘脈沖發生器、復位電路和啟停電路等控制邏輯。


EMG LS13.01測量光電傳感器

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EMG 高頻報警光發射器 LIH2/30/230.01

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1873年,英國W·史密斯發現硒的光電導效應,但是這種效應長期處于探索研究階段,未獲實際應用。第二次世界大戰以后,隨著半導體的發展,各種新的光電導材料不斷出現。在可見光波段方面,到二十世紀50年代中期,性能良好的硫化鎘、硒化鎘光敏電阻和紅外波段的硫化鉛光電探測器都已投入使用。二十世紀60年代初,中遠紅外波段靈敏的Ge、Si摻雜光電導探測器研制成功,典型的例子是工作在3~5微米和8~14微米波段的Ge:Au(鍺摻金)和Ge:Hg光電導探測器。二十世紀60年代末以后,HgCdTe、PbSnTe等可變禁帶寬度的三元系材料的研究取得進展。 工作原理和特性 光電導效應是內光電效應的一種。當照射的光子能量hv等于或大于半導體的禁帶寬度Eg時,光子能夠將價帶中的電子激發到導帶,從而產生導電的電子、空穴對,這就是本征光電導效應。這里h是普朗克常數,v是光子頻率,Eg是材料的禁帶寬度(單位為電子伏)。因此,本征光電導體的響應長波限λc為 λc=hc/Eg=1.24/Eg (μm) 式中 c為光速。本征光電導材料的長波限受禁帶寬度的限制。

在60年代初以前還沒有研制出適用的窄禁帶寬度的半導體材料,因而人們利用非本征光電導效應。Ge、Si等材料的禁帶中存在各種深度的雜質能級,照射的光子能量只要等于或大于雜質能級的離化能,就能夠產生光生自由電子或自由空穴。非本征光電導體的響應長波限λ由下式求得: λc=1.24/Ei 式中Ei代表雜質能級的離化能。到60年代中后期,Hg1-xCdxTe、PbxSn1-xTe、PbxSn1-xSe等三元系半導體材料研制成功,并進入實用階段。它們的禁帶寬度隨組分x值而改變,例如x=0.2的HG0.8Cd0.2Te材料,可以制成響應波長為 8~14微米大氣窗口的紅外探測器。它與工作在同樣波段的Ge:Hg探測器相比有如下優點:

工作溫度高(高于77K),使用方便,而Ge:Hg工作溫度為38K;本征吸收系數大,樣品尺寸小;易于制造多元器件。表1和表2分別列出部分半導體材料的Eg、Ei和λc值。

EMG LLS 1275/01 高頻光源發射器LICHTBAND


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