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膜厚儀

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更新時間：2018-05-14 09:00:00瀏覽次數：1100次

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珠海天創儀器有限公司

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產品簡介

集合了磁性測厚儀（P-MP0D）和渦流測厚儀（I-MP0D）兩種儀器的功能，是D-MP0D型儀器的改進型產品。可用于測量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。

詳細介紹

德國MPOR膜厚儀

MPOR膜厚儀為德國生產，集合了磁性測厚儀（P-MP0D）和渦流測厚儀（I-MP0D）兩種儀器的功能，是D-MP0D型儀器的改進型產品。可用于測量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。如：
1. 鋼鐵材料上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。
2. 鋁、銅、金等箔、帶材料及紙張、塑料膜的厚度。
3. 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。
4. 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。
5. 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
該儀器符合國家標準GB/T4956和GB/T4957，可用于生產檢驗、驗收檢驗及質量監督檢驗。

該儀器采用雙功能內置式探頭，無需更換探頭，可自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應的測量方式進行精確測量。
符合人體工程學設計的雙顯示屏結構，可以在任何測量位置讀取測量數據。
采用手機菜單方式快速選擇功能。
儀器可設定上下限，測量結果超出或符合上下限數值時，儀器會發出相應的聲音或閃爍燈提示。
儀器通常不必校正便可進行測量。
　
量程：0～2000μm。
精度：±1μm（0～50μm）；±2%（50μm～1000μm）；±3%1000μm～2000μm。
重復精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%＞100μm。
zui小測量曲率直徑：在精度范圍內，鐵基φ35mm，非鐵基φ50mm；
在允許誤差＜10%時，鐵基為φ10mm，非鐵基為φ2mm。
zui小測量面積直徑：φ4mm在允許誤差＜10%時，為φ2mm。
zui小基體厚度：鐵基0.2mm（誤差＜10%時）；非鐵基0.09mm（誤差＜10%時。
重量：60g（不含電池。
外形尺寸：64mm×30m×85mm。
電源：兩節5號電池。