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兩探針電阻率測試儀ρ:0.001~1000Ω•cm 型號:GDS/KDY-2(測鍺) | 貨號:ZH416 |
產品簡介 GDW3-KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國標準及美國材料與試驗協會(ASTM)的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適合于測量模截面尺寸是可測量的,而且棒的長度大于橫截面線度的有規則的長棒,例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出,遠離電壓測量探針,因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應(如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等),對測量的影響較小,因此兩探針法的測量精度一般優于四探針法。是對多晶材料的測量,由于多晶晶粒間界處,雜質局部偏析可能導致電阻率較大變化,這種影響對四探針法為嚴重,故不用四探針法測量多晶材料的電阻率。 本儀器除適合測量體形有規則的單晶棒外,也適合測量多晶棒。兩探針法測量水平區熔多晶鍺電阻率,在我國已有四十多年的實踐經驗,對區熔鍺錠橫截面面積的變化已總結出一套計算方法,本儀器采用李賀成提出的計算公式編寫程序,可用微機HQ-710C處理區熔鍺錠的測量數據,或采用KDY測量系統軟件測量數據,并根據北京有色金屬研究總院余懷之的提議,擴大了微處理機的數據處理范圍。 本儀器主要由電氣測量部份(簡稱:主機)、測試臺及兩探針頭組成。儀器的特點是主機配置雙數字表,在測量電阻率的同時,另一塊數字表(以之幾的精度)適時監測程的電流變化,免除了測量電流/測量電阻率的轉換,及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源,使測量電流高度穩定。本機配有恒流源開關,在測量某些材料時,可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生,好地保護被測材料。儀器配置了本公司的產品:“小游移探針頭”,間距為10mm的兩探針頭探針游移率在0.02~0.05%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本機需配用HQ-710C數據處理器或KDY測量系統軟件,置入的數據后,處理器會配合探頭在鍺錠上移動測量,自動計算、打印出點的電阻率、電阻率的zui大值、電阻率zui小值,給測量帶來很大方便。 主機技術參數 (1)測量范圍: 可測電阻率:鍺晶體0.1-100Ω·cm 可測鍺錠尺寸:zui大長度700mm;zui大高度50mm;zui大寬度60mm。 (2)恒流源: 輸出電流:DC 0.004-100mA 五檔連續可調 量程:0.004-0.01mA 0.04-0.10mA 0.4-1.0mA 4.0-10mA 40-100mA 恒流精度:檔均優于±0.05% (3)直流數字電壓表: 測量范圍:0-199.99mV 靈敏度:10μA 基本誤差:±(0.004%讀數+0.01%滿度) 輸入阻抗:≥1000MΩ (4)電阻測量誤差:≤0.3% (5)兩探針頭:KDT-5 探針間距:10.00±0.02mm 游移率:0.02-0.05% 探針壓力:4±1N/單針 (6)供電電源: AC 220V ±10% 50/60Hz 功率:12W (7)使用環境: 溫度:23±2℃ 相對溫度:≤65% 較強的電場干擾,強光直接照射。 (8)重量、體積: 主機重量:7.5Kg 體積:390×340×190(單位:mm 長度×寬度×高度) | ![]() |
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