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SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀

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更新時間：2024-04-03 08:13:35瀏覽次數：155次

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產品簡介

XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩(wěn)定性好，可應對歐洲WEEE、RoHS指令。

詳細介紹

臺式偏振X射線熒光光譜儀－SPECTRO XEPOS

德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種極其成功的技術，把偏振X射線應用于熒光分析。正如現今在拍攝高質量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣，這種*的分析技術已成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術，并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。

SPECTRO XEPOS內部采用高性能部件，可獲得的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以確保*激發(fā)，12位樣品自動交換器，預先安裝好的應用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。

SPECTRO XEPOS配有預先安裝好的應用包，包括：在工廠預先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析：土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測等。
XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩(wěn)定性好，可應對歐洲WEEE、RoHS指令。

關鍵詞：熒光光譜儀光譜儀元素分析儀電子元器件