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北京愛萬提斯科技有限公司--Avantes
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薄膜測量該系統為單層膜測量提供了所需的測量工具，包括反射探頭和支架，可以測量的膜層厚度從10nm到50μm，分辨率可達1nm，測量范圍從紫外/可見到近紅外（200-1100nm）
該系統為單層膜測量提供了所需的測量工具，包括反射探頭和支架，可以測量的膜層厚度從 10 nm 到 50μm， 分辨率可達 1 nm，測量范圍從紫外 / 可 見到近紅外（200-1100 nm）。
半導體工業
太陽能電池板
鍍膜
AvaSpec—Thin Film
光譜儀 | AvaSpec-ULS2048CL-EVO | Grating UA (200-1100nm) OSC-UA |
光源 | Avalight-DHc | PS-12V/1.0A |
光纖 | FCR-7UVIR200-2-ME | |
附件 | THINFILM-STAGE 支架和標準板 |
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