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HORIBA科學儀器事業部
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SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準確測量小顆粒物理性質的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數（A2）的測定；還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。
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SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準確測量小顆粒物理性質的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數（A2）的測定；還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。
SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。
產品特點
· 同臺儀器可測三種參數——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數
· 寬檢測范圍，寬濃度范圍——樣品濃度可達40%
· 自動滴定儀——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定
· 軟件操作簡單功能強大，一鍵測量
· 雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）
· 采用微量樣品池
技術參數
粒徑測量原理：動態光散射法（光子相關光譜法）
粒徑測定范圍：0.3nm ～10μm
粒徑測量精度：±2%（NIST 可溯源標準粒子100nm）
Zeta 電位測量原理：激光多普勒電泳法
Zeta 電位測量范圍：-500 mV ～ +500 mV
分子量測量原理：Debye plot
分子量測量范圍：1000 ～ 2×107 Da
測量角度：90° 和173°（可自動或手動選擇）
樣品量：12μL ～ 1000μL
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