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HORIBA科學儀器事業部
GD-Profiler 2射頻輝光放電光譜儀是一款可進行超快鍍層分析的理想工具,非常適合于導體(和/或)非導體復合鍍層的分析。可分析70多種元素,其中包括C、H、O、N和Cl。一次測試可輕松獲取鍍層元素深度分布、鍍層厚度、鍍層均一性及表面/界面等信息。
GD-Profiler 2射頻輝光放電光譜儀是一款可進行超快鍍層分析的理想工具,非常適合于導體(和/或)非導體復合鍍層的分析。可分析70多種元素,其中包括C、H、O、N和Cl。一次測試可輕松獲取鍍層元素深度分布、鍍層厚度、鍍層均一性及表面/界面等信息。
GD-Profiler 2可分析幾納米到200微米的深度,深度分辨率小于1納米。GD-Profiler 2采用了脈沖式射頻輝光源,可有效分析熱導性能差以及熱敏感的樣品。此外,還采用了多項技術,如高動態檢測器(HDD)可測試ppm-100%的濃度范圍,Polyscan多道掃描的光譜分辨率為18pm~25pm等。主要應用領域包括鍍鋅鋼板、彩涂板、新型半導體材料、LED晶片、硬盤、有機鍍層、鋰電池、玻璃、陶瓷等等。
GD-Profiler 2射頻輝光放電光譜儀技術參數:
1、射頻發生器-標準配置、復合D級標準、穩定性高、濺射束斑為平坦、等離子體穩定時間短,表面信息無任何失真。
2、脈沖工作模式既可以分析常規的涂/鍍層和薄膜,也可以很好地分析熱導性能差和熱易碎的涂/鍍層和薄膜。
3、Polyscan多道(同時)光譜儀可全譜覆蓋,光譜范圍從110nm-800nm,可測試遠紫外元素C、H、O、N和Cl。
4、HORIBA的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器擁有zui大的光通量,因而擁有的光效率和靈敏度。
5、高動態檢測器(HDD)可快速、高靈敏的檢測ppm-100%含量的元素。動態范圍為5×1010。
6、寬大的樣品室方便各類樣品的加載。
7、功能強大的Quantum軟件可以靈活方便的輸出各種格式的檢測報告。
8、HORIBA*的單色儀(選配)可大地提高儀器靈活性,可實現固定通道外任意一個元素的同步測試,稱為n+1。
9、適用于ISO14707和16962標準。
更多指標參數請訪問HORIBA
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商鋪:http://www.kindlingtouch.com/st711148/
主營產品:HORIBA歐洲總部 自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團――HORIBA公司,完成了公司強強聯手。如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設有生產廠家,其分支機構遍布。現在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(System)及各種光學光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。 目前,HORIBA Jobin Yvon公司設立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術支持與科研保障!
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