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HORIBA科學儀器事業部
高效型CL光譜儀 電子束入射到樣品上,即可用光學方法接收并分析陰發光(CL),從而提供樣品詳細的物理特性。它是一種無損的分析方法,結合電鏡可提供與形貌相關的高空間分辨率光譜結果,是納米結構和體材料的*分析工具。 HCLUE是一款基于反射鏡耦合優化的CL系統,結合了Jobin Yvon光譜技術制造的光譜儀模塊,具有高靈敏度性能,適用于弱信號測量。可同時配備兩個探測器,以獲得更大光譜范圍。
高效型CL光譜儀儀器簡介:
電子束入射到樣品上,即可用光學方法接收并分析陰發光(CL),從而提供樣品詳細的物理特性。它是一種無損的分析方法,結合電鏡可提供與形貌相關的高空間分辨率光譜結果,是納米結構和體材料的*分析工具。
HCLUE是一款基于反射鏡耦合優化的CL系統,結合了Jobin Yvon光譜技術制造的光譜儀模塊,具有高靈敏度性能,適用于弱信號測量??赏瑫r配備兩個探測器,以獲得更大光譜范圍。
原理圖
高效型CL光譜儀主要特點:
● 反射鏡直接耦合
● 高靈敏度
● 掃描成像、線掃描、點測量
● 多種光柵選項
● 多種焦長光譜儀選項:320mm-550mm
● 可配雙探測器以獲得zui大光譜范圍:185nm-2500nm
重點應用領域:
陰發光光譜儀(CL)是用來表征材料中的缺陷,元素和雜質追蹤的強大分析工具,廣泛適用于各個應用領域。
1、材料科學
● 半導體和光電材料
● 介電/陶瓷
● 氧化物膜
● 玻璃
2、礦物、地質
● 碳酸巖
● 晶體
● 金剛石
● 鋯石、方解石、白云石
3、生命科學
4、*
CL光譜及成像:
■CL光譜:使用CL測量光譜時,可在電鏡下觀察并選擇待測樣品區域。 | ■快速CL成像:將掃描電子束與您的光譜儀同步,提供快速成像方案。使用HCLUE系統測量的GaN樣品,測量中使用了超快SWIFTTM成像模式。 |
![]() 礦物樣品中的白云石和磷酸鈣。測量使用Flex-CLUE系統,配備iHR320光譜儀和開放電式CCD探測器。感謝Prof A. Jambon, UPMC France提供數據 |
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商鋪:http://www.kindlingtouch.com/st711148/
主營產品:HORIBA歐洲總部 自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團――HORIBA公司,完成了公司強強聯手。如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設有生產廠家,其分支機構遍布?,F在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(System)及各種光學光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。 目前,HORIBA Jobin Yvon公司設立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術支持與科研保障!
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