當前位置：HORIBA科學儀器事業部>>光柵光譜儀>>OEM定制化光譜儀（提供給光譜分析儀器制造商）

OEM定制化光譜儀（提供給光譜分析儀器制造商）

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協議為準

產品型號VS7000+

品牌

廠商性質生產商

所在地國外

在線詢價收藏產品查看聯系電話

聯系方式：王先生查看聯系方式

更新時間：2024-02-03 15:08:57瀏覽次數：167次

聯系我時，請告知來自環保在線

產品分類 品牌分類

  光柵光譜儀

全部產品列表

暫無信息

HORIBA科學儀器事業部

經營模式：生產廠家

商鋪產品：96條

所在地區：上海上海市

聯系人：王先生（經理）

詢價 給他留言

產品簡介

OEM定制化光譜儀VS7000+產品簡介：
VS7000+是一款集定制化、高性能、小型化于一身，面向光譜分析儀器制造商的OEM光譜儀產品。搭配不同的光柵、濾光片和探測器，可以滿足不同應用的性能需求，實現儀器產品性能的*化和差異化。

詳細介紹

產品簡介
VS7000+是一款集定制化、高性能、小型化于一身，面向光譜分析儀器制造商的OEM光譜儀產品。搭配不同的光柵、濾光片和探測器，可以滿足不同應用的性能需求，實現儀器產品性能的*化和差異化。
VS7000+標配HORIBA Jobin Yvon的4型消像差平像場光柵、高量子效率背照射CCD。峰值量子效率高于75%、動態范圍zui高達7000：1、光譜范圍覆蓋紫外、可見、近紅外，能滿足大多數光學光譜儀器的使用要求，特別適合用低感光下的精密光譜分析應用。另有多種定制化方案可滿足更多應用需求。
HORIBA Jobin Yvon 真正OEM定制化解決方案，兼顧性能*化和差異化，適合儀器開發和量產。

應用領域
• 生化醫療
• 熒光光譜
• 液相色譜
• 透射反射光譜
• LED光源檢測
• 水質氣體分析
• 便攜式拉曼開發
• 食品近紅外光譜分析

技術特點
• 高光通量（f/2.8）
• 超低雜散光
• 主流光譜范圍：紫外-可見（200nm~860nm）、可見（380nm~750nm）、紫外-可見（200nm~1050nm）
• 高靈敏度，適合熒光、發射、吸收和反射等光譜應用
• 采用高性能背照射CCD探測器，優于市場上正照射和低成本背照射CCD

特征	描述
覆蓋常用的紫外-可見光譜范圍	擁有*對稱峰型的小型光柵光譜儀
讀出速度快	zui快達4.5ms
*的電路技術	低噪音、高線性度（原始數據）和線性校正（板載）
背照射線性CCD	QE=63%（250nm處）；70%（650nm處）；55%（850nm處）
高性噪比	在非制冷CCD光譜儀中擁有zui高的性噪比
USB2.0接口	與電腦連接的標準USB接口，保證了100%數據完整性
高階濾光片	消除二級衍射
數據采集軟件/LabView^TMCVls/DLLs可用	可方便地將VS-7000+集成到您的系統中
單片光柵光路設計	采用單片消像差4型凹面平像場光柵，擁有*的分光純度
無運動部件或快門	使OEM集成具備了佳的可靠性

HORIBA Jobin Yvon4型消像差平像場光柵，*匹配陣列探測器。

單片光柵光路設計，實現高光通量、低雜散光、高穩定性。

采用高性能背照射CCD或CMOS探測器，高量子效率、高采集速率。

S10420理論量子效率曲線

參數規格
對光譜分析應用，VS-7000+采用改進型的VS70光學設計對UV-VIS進行優化

光譜范圍	紫外-可見（200nm~860nm）：采用250nm處優化的光柵，內置高階濾光片可見（380nm~750nm）：采用可見光譜閃耀的光柵，內置長通濾光片紫外-可見-近紅外（200nm~1050nm）：采用紫外可見雙閃耀光柵，內置高階濾光片
數值孔徑	f/2.8
雜散光抑制典型（zui大）	0.04%（0.08%），配置300μm高紫外-可見型CCD （采用510nm寬帶濾光片，75μm寬狹縫進行測量）＞2.4 AU線性范圍（5%誤差），采用氘燈和10mm比色皿，測量在273nm處的吸收
CCD探測器典型量子效率	高性能背照射CCD，紫外波段的量子效率高達65%，近紅外消etaloning效應
探測器高度和光纖參數	CCD感光面高300μm（另有1mm可選）適配600μm芯徑，1.5m長的光纖（對1mm高CCD*800μm~1000μm芯徑光纖）
熱電穩定性	暗電流和CCD模式噪聲需扣除，操作者需關閉光源或在光路上安裝快門探測器量子效率會隨溫度變化有微小變化
光譜分辨率像素分辨率狹縫（出廠配置）	紫外-可見：在75μm狹縫、2048像元下，分辨率為2.7nm； 0.33nm/像元（配置300μm高CCD）可選狹縫寬度：12、25、37、50、62、75、100、125、150、200μm（如需其他狹縫規格，請與我們）
改進的CCD滿阱容量原始非線性度工廠校正的非線性度	＞250ke^-（靈敏模式）＞450ke^-（高滿阱模式）＜1%（靈敏模式）＜3%（高滿阱模式）＜0.4%（靈敏模式）＜0.8%（高滿阱模式）
讀出速度	8.6ms（500kHz 模式），116spectra/s（多道采集模式，零曝光時間） zui快：4.5ms（超快模式），223spectra/s（多道采集模式，零曝光時間）
典型暗電流	2.8counts/ms （20℃），典型偏移 = 1000 counts
典型讀出噪聲	在靈敏模式下35e^-（zui大45e^-）在高滿阱模式下75e^-（zui大90e^-）
A/D轉換	16bit，500kHz
典型動態范圍	7000:1（靈敏模式），6000:1（高滿阱模式）
典型信噪比	500:1（靈敏模式）至700:1（高滿阱模式），在散粒噪聲受限的條件下
增益選擇	4e^-/count 和8e^-/count

注：參數，外形和光譜范圍如有更改，恕不另行通知。

采集軟件
包括（LabVIEW^TM 2011版）

• 為用戶編程提供VIs和上層代碼
• 可訪問CCD原始線性數據和校正線性數據，出廠前對每個CCD芯片做校正
• CCD設置和暗噪聲扣除
• 板載（on-board）或者軟件平均
• 吸收和透射計算
• 像素、波長和波數三種標度選擇
• 板載（on-board）光譜校準
• 線性校正開關
• Boxcar平均
• 數據保存支持Excel或Txt格式
注：運行自帶軟件無需LabView許可證，編輯代碼需要2011版LabView許可證，HORIBA Jobin Yvon不提供代碼編寫的。