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OEM定制化光譜儀(提供給光譜分析儀器制造商)

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具體成交價以合同協議為準

產品型號VS7000+

品       牌

廠商性質生產商

所  在  地國外

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更新時間:2024-02-03 15:08:57瀏覽次數:167次

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經營模式:生產廠家

商鋪產品:96條

所在地區:上海上海市

聯系人:王先生 (經理)

產品簡介

OEM定制化光譜儀VS7000+產品簡介:
VS7000+是一款集定制化、高性能、小型化于一身,面向光譜分析儀器制造商的OEM光譜儀產品。搭配不同的光柵、濾光片和探測器,可以滿足不同應用的性能需求,實現儀器產品性能的*化和差異化。

詳細介紹

產品簡介
    VS7000+是一款集定制化、高性能、小型化于一身,面向光譜分析儀器制造商的OEM光譜儀產品。搭配不同的光柵、濾光片和探測器,可以滿足不同應用的性能需求,實現儀器產品性能的*化和差異化。
    VS7000+標配HORIBA Jobin Yvon的4型消像差平像場光柵、高量子效率背照射CCD。峰值量子效率高于75%、動態范圍zui高達7000:1、光譜范圍覆蓋紫外、可見、近紅外,能滿足大多數光學光譜儀器的使用要求,特別適合用低感光下的精密光譜分析應用。另有多種定制化方案可滿足更多應用需求。
    HORIBA Jobin Yvon 真正OEM定制化解決方案,兼顧性能*化和差異化,適合儀器開發和量產。

 
應用領域
• 生化醫療
• 熒光光譜
• 液相色譜
• 透射反射光譜
• LED光源檢測
• 水質氣體分析
• 便攜式拉曼開發
• 食品近紅外光譜分析

技術特點
• 高光通量(f/2.8)
• 超低雜散光
• 主流光譜范圍:紫外-可見(200nm~860nm)、可見(380nm~750nm)、紫外-可見(200nm~1050nm)
• 高靈敏度,適合熒光、發射、吸收和反射等光譜應用
• 采用高性能背照射CCD探測器,優于市場上正照射和低成本背照射CCD

特征 描述
覆蓋常用的紫外-可見光譜范圍 擁有*對稱峰型的小型光柵光譜儀
讀出速度快 zui快達4.5ms
*的電路技術 低噪音、高線性度(原始數據)和線性校正(板載)
背照射線性CCD QE=63%(250nm處);70%(650nm處);55%(850nm處)
高性噪比 在非制冷CCD光譜儀中擁有zui高的性噪比
USB2.0接口 與電腦連接的標準USB接口,保證了100%數據完整性
高階濾光片 消除二級衍射 
數據采集軟件/LabViewTMCVls/DLLs可  用 可方便地將VS-7000+集成到您的系統中
單片光柵光路設計 采用單片消像差4型凹面平像場光柵,擁有*的分光純度
無運動部件或快門 使OEM集成具備了佳的可靠性

 
HORIBA Jobin Yvon4型消像差平像場光柵,*匹配陣列探測器。

單片光柵光路設計,實現高光通量、低雜散光、高穩定性。


采用高性能背照射CCD或CMOS探測器,高量子效率、高采集速率。


S10420理論量子效率曲線

參數規格
對光譜分析應用,VS-7000+采用改進型的VS70光學設計對UV-VIS進行優化

光譜范圍 紫外-可見(200nm~860nm):采用250nm處優化的光柵,內置高階濾光片
可見(380nm~750nm):采用可見光譜閃耀的光柵,內置長通濾光片
紫外-可見-近紅外(200nm~1050nm):采用紫外可見雙閃耀光柵,內置高階濾光片
數值孔徑 f/2.8
雜散光抑制
典型(zui大)
0.04%(0.08%),配置300μm高紫外-可見型CCD
(采用510nm寬帶濾光片,75μm寬狹縫進行測量)
>2.4 AU線性范圍(5%誤差),采用氘燈和10mm比色皿,測量在273nm處的吸收
CCD探測器典型量子效率 高性能背照射CCD,紫外波段的量子效率高達65%,近紅外消etaloning效應
探測器高度和光纖參數 CCD感光面高300μm(另有1mm可選)
適配600μm芯徑,1.5m長的光纖(對1mm高CCD*800μm~1000μm芯徑光纖)
熱電穩定性 暗電流和CCD模式噪聲需扣除,操作者需關閉光源或在光路上安裝快門
探測器量子效率會隨溫度變化有微小變化
光譜分辨率
像素分辨率
狹縫(出廠配置)

 
紫外-可見:在75μm狹縫、2048像元下,分辨率為2.7nm;
0.33nm/像元(配置300μm高CCD)
可選狹縫寬度:12、25、37、50、62、75、100、125、150、200μm(如需其他狹縫規格,請與我們)
改進的CCD滿阱容量
原始非線性度
工廠校正的非線性度
>250ke-(靈敏模式)   >450ke-(高滿阱模式)
 <1%(靈敏模式)  <3%(高滿阱模式)
<0.4%(靈敏模式)  <0.8%(高滿阱模式)
讀出速度 8.6ms(500kHz 模式),116spectra/s(多道采集模式,零曝光時間)
zui快:4.5ms(超快模式),223spectra/s(多道采集模式,零曝光時間)
典型暗電流 2.8counts/ms (20℃),典型偏移 = 1000 counts
典型讀出噪聲 在靈敏模式下35e-(zui大45e-) 在高滿阱模式下75e-(zui大90e-
A/D轉換 16bit,500kHz
典型動態范圍 7000:1(靈敏模式),6000:1(高滿阱模式)
典型信噪比 500:1(靈敏模式)至700:1(高滿阱模式),在散粒噪聲受限的條件下
增益選擇 4e-/count 和8e-/count

注:參數,外形和光譜范圍如有更改,恕不另行通知。
 
采集軟件
包括(LabVIEWTM 2011版)

• 為用戶編程提供VIs和上層代碼
• 可訪問CCD原始線性數據和校正線性數據,出廠前對每個CCD芯片做校正
• CCD設置和暗噪聲扣除
• 板載(on-board)或者軟件平均
• 吸收和透射計算
• 像素、波長和波數三種標度選擇
• 板載(on-board)光譜校準
• 線性校正開關
• Boxcar平均
• 數據保存支持Excel或Txt格式
注:運行自帶軟件無需LabView許可證,編輯代碼需要2011版LabView許可證,HORIBA Jobin Yvon不提供代碼編寫的。


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